[發明專利]干涉儀型光纖干擾檢測裝置及其檢測方法

有效

• 申請號: 201280065977.0
• 申請日: 2012-12-14
• 公開（公告）號: CN104040598A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 金孝相;鄭浩鎮;龍載哲
• 申請（專利權）人: 法柏有限公司
• 主分類號: G08B13/186
• 分類號: G08B13/186
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 金龍河;穆德駿

1.一種干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，包括：

檢測光纖，用于檢測外部干擾；

光信號發生部，用于輸出脈沖形態的光信號；

光干涉部，向上述檢測光纖輸出將從上述光信號發生部輸出的光信號分割并沿著不同長度的光程行進后結合而成的檢測光信號，并輸出將從上述檢測光纖返回的檢測光信號分割并沿著不同長度的光程行進后結合而成的干涉檢測信號；

光接收部，將從上述光干涉部輸出的上述干涉檢測光信號轉換為電信號并輸出；以及

信號處理部，分析從上述光接收部輸出的電信號，掌握向上述檢測光纖施加的外部干擾的位置及種類。

2.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述檢測光纖是強化了瑞利后向散射的光纖。

3.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述檢測光纖包括由FC/{C連接器相連接的多個光纖線纜。

4.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述檢測光纖包括利用光纖光柵的反射點。

5.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述檢測光纖為保偏光纖。

6.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述光信號發生部包括無偏光光源。

7.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述光信號發生部包括選自激光二極管、超輻射發光二極管、利用摻鉺光纖的放大自發輻射光源及發光二極管中的一種光源。

8.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述光信號發生部的光源為短波長光源。

9.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述光干涉部包括：

第一光耦合器，將從上述光信號發生部輸入的光信號分割并沿著不同長度的光程輸出，將從上述不同長度的光程輸入的光信號結合并向上述光接收部輸出；以及

第二光耦合器，將從上述不同長度的光程輸入的光信號結合并向上述檢測光纖輸出，將從上述檢測光纖輸入的光信號分割并沿著上述不同長度的光程輸出。

10.根據權利要求9所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述第一光耦合器為一側的兩端口與上述光信號發生部及上述光接收部相連接且另一側的兩端口與上述不同長度的光程相連接的2×2光耦合器。

11.根據權利要求9所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述第一光耦合器為一側的中間端口與上述光信號發生部相連接、上述一側的上下端端口與第一光接收部及第二光接收部相連接且另一側的上下端端口與上述不同長度的光程相連接的3×3光耦合器。

12.根據權利要求10或11所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述第二光耦合器為一側的兩端口與上述不同長度的光程相連接且另一側的一端口與上述檢測光纖相連接的2×2光耦合器。

13.根據權利要求13所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述不同長度的光程的程差比上述光信號的脈沖長度長。

14.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，還包括消偏器，該消偏器設在上述光干涉部的一路程或上述光信號發生部與上述光干涉部之間。

15.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，在上述光干涉部的一路程還包括相位調制器。

16.根據權利要求1所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述信號處理部在將上述檢測光纖的距離劃分為多個區間之后，按光信號的脈沖次序對從各區間后向散射并由上述光接收部接收的信號值進行采樣，并存儲于存儲器。

17.根據權利要求16所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述信號處理部通過按上述檢測光纖的距離按每個脈沖依次讀取存儲于上述存儲器的信號值，掌握在特定地點的外部干涉引起的后向散射信號的大小變化，來判斷是否向被劃分為上述多個區間的地點施加了干擾。

18.根據權利要求16所述的干涉儀型光纖干擾檢測裝置，其特征在于，上述信號處理部按脈沖列比較存儲于存儲器的信號值，來掌握外部干擾的頻率特性。