[發明專利]檢測和/或定量氫的裝置及檢測和/或定量氫的方法

有效

• 申請號: 201280065634.4
• 申請日: 2012-12-26
• 公開（公告）號: CN104094102B
• 公開（公告）日: 2018-03-20
• 發明（設計）人: 約翰·貝特朗;西爾維·德萊皮納-勒索利耶;格扎維埃·費龍
• 申請（專利權）人: 法國國家放射性廢物管理局
• 主分類號: G01N21/63
• 分類號: G01N21/63;G01N33/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 鞏克棟,楊生平

1.用于監測設施(1)的用于檢測和/或定量分析氫的裝置(100)，所述裝置(100)包含：

-第一測量用光學纖維(10)，用于配備所述設施(1)，

-光學地連接到所述第一測量用光學纖維(10)上的光學系統(20)，并適于測量所述第一測量用光學纖維的至少一個參數，

所述裝置(100)的特征為，所述光學系統(20)適于根據Brillouin型測量原理，沿著所述第一測量用光學纖維(10)測量所述第一測量用光學纖維(10)的參數，

其中所述第一測量用光學纖維(10)包括核芯、光學包皮和保護涂層，所述保護涂層為塑料涂層。

2.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中所述第一測量用光學纖維的參數測量根據Brillouin測量原理測量，所述的Brillouin測量原理選自由在時域中的Brillouin光學反射計測量，在頻域中的Brillouin光學反射計測量，在相關域中的Brillouin光學反射計測量，通過在時域中分析進行的Brillouin光學測量，通過在頻域中分析進行的Brillouin光學測量和通過在相關域中分析進行的Brillouin光學測量組成的組。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中所述裝置在第一測量用光學纖維(10)的至少一個位置上，適于進行所述第一測量用光學纖維(10)的至少一個參數的參照測量，所述的參照測量不受氫的存在的影響。

4.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中所述光學系統(20)適合于在兩個不同的波長下沿著第一測量用光學纖維進行參照測量。

5.根據權利要求3所述的裝置(100)，其中所述第一測量用光學纖維(10)包含對氫不敏感的至少一部分，以便在所述部分通過所述光學系統(20)的所述第一測量用光學纖維的參數的測量提供參照測量。

6.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中用于配備所述設施(1)還提供連接于所述光學系統(20)的參照光學纖維(30)，所述參照光學纖維(30)用于沿所述第一測量用光學纖維(10)提供參照測量。

7.根據權利要求6所述的裝置(100)，其中配置所述參照光學纖維(30)以便對氫不敏感。

8.根據權利要求1所述的裝置(100)，其中用于配備設施還提供的接于所述光學系統(20)的第二測量用光學纖維(11)，配置所述第二測量用光學纖維(11)以便具有不同于所述第一測量用光學纖維(10)的與氫的相互作用。

9.根據權利要求8所述的裝置(100)，根據其所述第二測量用光學纖維(11)包含在所述第二測量用光學纖維(11)中限制氫擴散的部件。

10.根據權利要求8所述的裝置(100)，根據其所述第二測量用光學纖維(11)的用于限制氫擴散的部件包含所述第二測量用光學纖維的包皮，所述包皮對氫具有部分滲透性。

11.根據權利要求8所述的裝置(100)，根據其所述第二測量用光學纖維(11)具有預先的氫負載，配置其以便改變所述第二測量用光學纖維(11)與氫的相互作用。

12.根據權利要求6所述的裝置(100)，其中所述第一測量用光學纖維(10)和所述參照光學纖維(30)以串的形式放置。

13.用于監測設施，用于檢測和/或定量分析氫的方法，所述方法包含由如下步驟組成：

-在所述設施中安裝第一測量用光學纖維(10)，其中所述第一測量用光學纖維(10)包括核芯、光學包皮和保護涂層，所述保護涂層為塑料涂層，

-根據Brillouin測量原理，沿著所述測量用光學纖維進行參數的測量，

-根據Brillouin測量原理，在所述第一測量用光學纖維(10)中，從沿著所述第一測量用光學纖維測得的參數中分別檢測和/或定量分析氫。

14.檢測和/或定量分析氫的方法，其特征在于，其使用根據權利要求1所述的裝置(100)并包含由如下步驟組成：

-根據Brillouin測量原理，沿著第一測量用光學纖維，使用所述光學系統(20)測量所述第一測量用光學纖維(10)的參數，

-根據Brillouin測量原理，在所述第一測量用光學纖維(10)中，從沿著所述第一測量用光學纖維(10)測得的參數中分別檢測和/或定量分析氫。