[發明專利]針對滯留時間確定或確認的視窗化質譜分析數據的使用

有效

• 申請號: 201280064280.1
• 申請日: 2012-12-15
• 公開（公告）號: CN104025249A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 斯蒂芬·A·泰特;約翰·R·伯頓
• 申請（專利權）人: DH科技發展私人貿易有限公司
• 主分類號: H01J49/26
• 分類號: H01J49/26;G06F9/44
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 曹曉斐

1.一種用于對光譜集合中所關注的已知化合物峰進行評分的系統，所述系統包括：

從樣本混合物中分離一或多種化合物的分離裝置；

質譜儀，所述質譜儀通過使用一或多個序列質量窗口寬度在多個間隔的每個間隔處在分離的樣本混合物上執行一或多次質譜掃描以橫跨整個質量范圍，從而在所述多個間隔內產生所述整個質量范圍的光譜集合；以及

處理器，所述處理器

(a)選擇已知化合物的碎片離子，

(b)在所述光譜集合中在所述多個間隔的一或多個不同間隔處識別所述碎片離子的一或多個峰，以及

(c)通過以下方式對所述一或多個峰中的每個峰進行評分：從所述光譜集合中獲取所述每個峰的每個間隔內的所述整個質量范圍的質譜，將所述質譜中與所述每個峰對應的質荷比峰的一或多個離子特征值與所述碎片離子的一或多個已知值相比較，以及使所述每個峰的得分基于所述比較的結果。

2.根據權利要求1所述的系統，其中所述多個間隔包括多個間隔。

3.根據權利要求1所述的系統，其中所述多個間隔包括多個離子遷移率。

4.根據權利要求1所述的系統，其中所述一或多個離子特征包括電荷狀態。

5.根據權利要求1所述的系統，其中所述一或多個離子特征包括同位素狀態。

6.根據權利要求1所述的系統，其中所述一或多個離子特征包括質量精確度。

7.根據權利要求1所述的系統，其中所述一或多個離子特征包括與所述已知化合物的已知碎片輪廓相關聯的一或多個質量差。

8.根據權利要求1所述的系統，其中所述處理器基于所述一或多個峰的得分進一步識別所述已知化合物的分離間隔。

9.根據權利要求8所述的系統，其中所述分離間隔包括滯留時間。

10.根據權利要求8所述的系統，其中所述分離間隔包括離子遷移率。

11.根據權利要求8所述的系統，其中所述處理器將所述已知化合物的分離間隔識別為具有最高得分的所述一或多個峰中的一個峰的間隔。

12.根據權利要求1所述的系統，其中所述處理器進一步

針對所述已知化合物的一或多個額外碎片離子執行步驟(a)到(c)，從而產生所述已知化合物的兩個或更多個碎片離子的峰的得分，

識別所述多個間隔的兩個或更多個不同間隔，其中所述兩個或更多個碎片離子中的每個碎片離子在所述光譜集合中具有峰，

將在所述兩個或更多個不同間隔中每一者處來自所述兩個或更多個碎片離子的峰的得分組合，從而產生所述兩個或更多個間隔中每一者的組合得分，以及

將具有最高得分的所述兩個或更多個不同間隔中的一個間隔識別為所述已知化合物的分離間隔。

13.根據權利要求12所述的系統，其中在所述分離間隔處來自所述光譜集合的所述整個質量范圍的質譜用于所述已知化合物的定量。

14.根據權利要求12所述的系統，其中在所述分離間隔處來自所述光譜集合的所述整個質量范圍的質譜用于定位所述已知化合物的修改形式。

15.一種用于對光譜集合中的所關注的已知化合物的峰進行評分的方法，所述方法包括：

獲取整個質量范圍的光譜集合，其中使用分離裝置將一或多個化合物從樣本混合物中分離，并且其中通過使用一個或多個序列質量窗口寬度在多個間隔的每個間隔處在分離的樣本混合物上執行一或多次質譜掃描以橫跨所述整個質譜質量范圍，從而使用質譜儀在所述多個間隔內產生所述整個質量范圍的所述光譜集合；

選擇已知化合物的碎片離子；

在所述光譜集合中的所述多個間隔的一或多個不同間隔處識別所述碎片離子的一或多個峰；以及

通過以下方式對所述一或多個峰的每個峰進行評分：從所述光譜集合中獲取所述每個峰的每個間隔內的所述整個質量范圍的質譜，將所述質譜中與所述每個峰對應的質荷比峰的一或多個離子特征值與所述碎片離子的一或多個已知值相比較，以及使所述每個峰的得分基于所述比較的結果。

16.一種計算機程序產品，所述計算機程序產品包括非暫時性的和有形的計算機可讀存儲媒體，所述計算機可讀存儲媒體的內容包含具有在處理器上執行的指令的程序，以便執行用于對光譜集合中的所關注的已知化合物的峰進行評分的方法，所述方法包括：

提供一種系統，其中所述系統包括一或多個不同軟件模塊，并且其中所述不同軟件模塊包括測量模塊和分析模塊；

使用所述測量模塊獲取整個質量范圍的光譜集合，其中一或多種化合物使用分離裝置從樣本混合物中分離，并且其中通過使用一或多個序列質量窗口寬度在多個間隔的每個間隔處在分離的樣本混合物上執行一或多次質譜掃描，以橫跨所述整個質量范圍，從而使用質譜儀在所述多個間隔內產生所述整個質量范圍的所述光譜集合；

使用所述分析模塊選擇已知化合物的碎片離子；

使用所述分析模塊在所述光譜集合中的所述多個間隔的一或多個不同間隔處識別所述碎片離子一或多個峰；以及

使用所述分析模塊通過以下方式對所述一或多個峰中的每個峰進行評分：從所述光譜集合中獲取所述每個峰的每個間隔內的所述整個質量范圍的質譜，將所述質譜中與所述每個峰對應的質荷比峰的一或多個離子特征值與所述碎片離子的一或多個已知值相比較，以及使將所述每個峰的得分基于所述比較的結果。