[發明專利]氣體測量儀

有效

• 申請號: 201280062014.5
• 申請日: 2012-12-13
• 公開（公告）號: CN104220864B
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: F·基利希
• 申請（專利權）人: 梅特勒-托萊多有限公司
• 主分類號: G01N21/39
• 分類號: G01N21/39
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李振東;過曉東

1.在原位以吸收光譜的方式確定氣態測量介質(432)的至少一種化學和/或物理參數的氣體測量儀，其中所述氣體測量儀包括第一殼體(101、201、301、401、501)；至少一個激光器(102、202、302、402)作為輻射源，其被布置在第一殼體(101、201、301、401、501)中；至少一個過程窗口(114、214、314、414、514)用以將由激光器(102、202、302、402)發出的輻射耦合輸入測量介質(432)；和至少一個檢測器(103、203、303、403)，輻射在與所述測量介質(432)相互作用后可以通過該檢測器檢測出來；其特征在于，第一過程窗口(114、214、314、414、514)被構造為無焦點凹凸透鏡，其包括凹形表面和凸形表面。

2.如權利要求1所述的氣體測量儀，其特征在于，它還包括光學偏轉元件(112、212、512)，其將耦合輸入測量介質的輻射回引至第一過程窗口(114、214、514)。

3.如權利要求2所述的氣體測量儀，其特征在于，所述光學偏轉元件(112、212、512)包括至少一個貓眼透鏡、至少一個三棱鏡、至少一個三面鏡、至少一個平面鏡或成像鏡。

4.如權利要求1或2所述的氣體測量儀，其特征在于，檢測器(103、203)和激光器(102、202)被布置在第一殼體(101、201、501)中，第一過程窗口(114、214、514)用于將由激光器(102、202)發出的輻射耦合輸入到測量介質以及在其與測量介質相互作用后將輻射從測量介質中耦合輸出。

5.如權利要求1或2所述的氣體測量儀，其特征在于，它還包括第二殼體(217、317、417)和第二過程窗口(218、318、418)，其中檢測器(303、403)或光學偏轉元件(212)被布置在第二殼體中。

6.如權利要求5所述的氣體測量儀，其特征在于，第二過程窗口(218、318、418)被構造為無焦點凹凸透鏡，其具有凹形和凸形表面。

7.如權利要求1至3之一所述的氣體測量儀，其特征在于，它還包括氣體探針(107、207、307、507)，其包括圓柱形的、帶有至少一個過程開口(111、211、311、511)的探針殼體(110、210、310、510)，在工作過程中，測量介質通過上述過程開口能夠擠進所述探針殼體(110、210、310、510)的內部，其中所述氣體探針(107、207、307、507)的端部在工作過程中與第一殼體(101、201、301、501)連接。

8.如權利要求7所述的氣體測量儀，其特征在于，所述氣體探針包括針對掃氣用氣體的掃氣用氣體接口(520)和至少一個掃氣用氣體通道(523)。

9.如權利要求8所述的氣體測量儀，其特征在于，在工作過程中，第一過程窗口(514)和/或第二過程窗口在介質一側具有掃氣用氣體墊。

10.如權利要求2或3所述的氣體測量儀，其特征在于，所述光學偏轉元件(512)被無密封地固定并在工作過程中由掃氣用氣體在周圍沖洗。

11.如權利要求1至3之一所述的氣體測量儀，其特征在于，所述激光器(102、202、302、402)是可被調諧的。

12.如權利要求1至3之一所述的氣體測量儀，其特征在于，有待檢測的化學和/或物理參數包括至少一個下述參數：溫度、壓力和/或至少一種選自以下組中的氣體的濃度：氧氣、二氧化碳、一氧化碳、氮氧化物、氨氣、胺、鹵化氫、硫化氫、二氧化硫、水或其混合物。