[發(fā)明專利]用于對(duì)顆粒物料分類的設(shè)備和方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201280060946.6
• 申請(qǐng)日: 2012-08-06
• 公開（公告）號(hào): CN104136127A
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J·C·博克斯;V·A·戈羅瓦內(nèi)夫斯基
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 克丁科技大學(xué)
• 主分類號(hào): B03C1/02
• 分類號(hào): B03C1/02;B07B13/00
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 張濤

1.一種用于對(duì)顆粒物料分類的設(shè)備，所述設(shè)備包括：

接收部分，所述接收部分用于接收具有在預(yù)定的尺寸范圍內(nèi)的粒度的顆粒物料；

分配器，所述分配器用于在其上端部處接收所述顆粒物料，并且所述分配器具有傾斜的分配面，在使用中所述顆粒物料基本通過重力經(jīng)過所述傾斜的分配面，所述傾斜的分配面的表面積朝向其的下端部增大以幫助從所述分配器的下端部離開落下的所述顆粒形成單層進(jìn)給流，所述單層進(jìn)給流分配為幕狀的顆粒流；和

磁性元件，所述磁性元件用于產(chǎn)生磁力，所述磁力被指引成使得離開所述分配器的下端部落下的所述顆粒具有依據(jù)所述顆粒的磁特性的路徑；以及

分類部分，所述分類部分用于基于所述顆粒的所述路徑對(duì)所述顆粒分類。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其中，所述分配面具有圓形的或圓角的橫截面形狀。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的設(shè)備，其中，所述分配面具有圓錐形狀。

4.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述分配器布置成使得所述顆粒物料的進(jìn)給流限定環(huán)或其部分。

5.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述傾斜的表面的斜坡是筆直的。

6.根據(jù)以上權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述傾斜的表面的斜坡是彎曲的。

7.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述接收部分布置成用于通過重力進(jìn)給。

8.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件布置成使得所述磁力具有與在使用中離開所述分配器的所述進(jìn)給流的方向垂直的主要分力或方向。

9.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件布置成使得所述磁力朝向或遠(yuǎn)離所述分配器的豎直軸線指引。

10.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件包括這樣的部件，即，所述部件定位成在使用中使得所述顆粒物料的進(jìn)給流基本包圍所述磁性元件。

11.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件包括這樣的部件，即，所述部件定位成在使用中使得所述磁性元件基本包圍所述顆粒物料的進(jìn)給流。

12.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件是電磁元件，并且其中，所述磁性元件布置成使得所述磁力的強(qiáng)度能夠電力地改變。

13.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述磁性元件布置成使得所述磁力的強(qiáng)度能夠機(jī)械地改變。

14.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，具有第一分類溜槽和第二分類溜槽，并且布置成將所述顆粒物料分成兩個(gè)部分。

15.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備包括中間溜槽部分，所述中間溜槽部分位于所述分配器和所述分類部分之間并且布置成與所述磁性元件相鄰，以便使所述顆粒物料的進(jìn)給流當(dāng)通過所述中間溜槽部分時(shí)暴露于所述磁力。

16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備，其中，所述中間溜槽部分聯(lián)接到所述分類部分，以便使所述磁力影響所述顆粒在所述中間溜槽部分中的路徑，并且所述顆粒繼而被指引到所述分類部分中。

17.根據(jù)權(quán)利要求15或16所述的設(shè)備，其中，所述中間溜槽部分具有比所述顆粒的平均粒度的20倍小的直徑。

18.根據(jù)權(quán)利要求15或16所述的設(shè)備，其中，所述中間溜槽部分具有比所述顆粒的平均粒度的10倍小的直徑。

19.根據(jù)權(quán)利要求15或16所述的設(shè)備，其中，所述中間溜槽部分具有比所述顆粒的平均粒度的5倍小的直徑。

20.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備布置成用于將具有高于閾值濃度的鐵濃度的鐵礦石顆粒與其余的顆粒分離。

21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備布置成使得具有高于所述閾值濃度的鐵濃度的鐵礦石被指引到第一分類溜槽中并且其余的顆粒被指引到第二分類溜槽中。

22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的設(shè)備，其中，所述設(shè)備布置成將磁鐵礦物、赤鐵礦物和針鐵礦物彼此分離和/或?qū)⒋盆F礦物、赤鐵礦物和針鐵礦物與所述鐵礦石的其它顆粒分離。