[發明專利]核磁共振成像裝置以及核磁共振成像方法有效
| 申請號: | 201280060866.0 | 申請日: | 2012-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN104094105B | 公開(公告)日: | 2017-07-18 |
| 發明(設計)人: | 佐佐木進;弓削達郎;平山祥郎 | 申請(專利權)人: | 國立研究開發法人科學技術振興機構 |
| 主分類號: | G01N24/08 | 分類號: | G01N24/08;A61B5/055;G01R33/48;H01L21/66 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司11219 | 代理人: | 權太白,謝麗娜 |
| 地址: | 日本埼玉*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 核磁共振成像 裝置 以及 方法 | ||
1.一種核磁共振成像裝置,其特征在于,
具備:探針,能夠在靜態的梯度磁場中收納試樣;
施加部,以預定的時間間隔2τ對所述試樣多重地施加與所述試樣的預定位置處的所述靜態的梯度磁場對應的拉莫爾頻率的π脈沖來作為多π脈沖;以及
圖像處理部,測量施加所述多π脈沖時來自所述試樣的核磁共振(NMR)信號,并對從施加所述多π脈沖經過了預定時間后的該NMR信號的強度與時間之間的關系以直線進行擬合,根據所述直線的斜率求得橫向弛豫時間(T2L)并進行其成像,
所述NMR信號和所述橫向弛豫時間(T2L)具有以下的式(1)所示的關系,
所述π脈沖的預定的時間間隔2τ與所述試樣的核自旋從外部環境受到的噪聲的頻率f由以下的式(2)表示,
[算式1]
W(t):NMR信號強度
T2L:信號衰減常數(橫向弛豫時間)
t:時間
f:核自旋受到的噪聲的頻率
τ:π脈沖間隔的1/2。
2.根據權利要求1所述的核磁共振成像裝置,其特征在于,
所述NMR信號的橫向弛豫時間依賴于所述π脈沖預定的的時間間隔2τ,并且依賴于所述π脈沖的預定的時間間隔2τ的橫向弛豫時間依賴于所述試樣的核自旋從外部環境受到的噪聲,所述施加部利用這一點,施加根據所述試樣的外部環境決定的預定的時間間隔2τ的π脈沖。
3.根據權利要求2所述的核磁共振成像裝置,其特征在于,
所述圖像處理部通過以顏色的濃淡表示橫向弛豫時間的大小來進行所述橫向弛豫時間的成像。
4.根據權利要求1~3的任意一項所述的核磁共振成像裝置,其特征在于,
所述試樣為半導體,所述π脈沖的時間間隔2τ是與所述半導體的載流子和核自旋的相互作用成為噪聲的頻率區域對應的間隔。
5.根據權利要求1~3的任意一項所述的核磁共振成像裝置,其特征在于,
所述試樣為生物體,所述π脈沖的時間間隔2τ為與生物體反應或者臟器的特定部分的反應速度相應的頻率區域對應的間隔。
6.根據權利要求1~3的任意一項所述的核磁共振成像裝置,其特征在于,
所述施加部能夠以所述預定的時間間隔2τ多重地施加與所述試樣的多個不同位置處的所述靜態的梯度磁場對應的拉莫爾頻率的π脈沖,
所述圖像處理部能夠針對所述試樣的多個不同位置的每一個,根據從施加所述多π脈沖經過了預定時間后的所述NMR信號的強度與時間之間的關系,求得橫向弛豫時間(T2L)并進行其成像。
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