[發明專利]超分辨率地層流體成像有效
| 申請號: | 201280060653.8 | 申請日: | 2012-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN104081227B | 公開(公告)日: | 2016-10-26 |
| 發明(設計)人: | 霍華德·K·施密特 | 申請(專利權)人: | 沙特阿拉伯石油公司 |
| 主分類號: | G01V3/12 | 分類號: | G01V3/12;G01V3/30 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 陳源;顧麗波 |
| 地址: | 沙特阿拉*** | 國省代碼: | 沙特阿拉伯;SA |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分辨率 地層 流體 成像 | ||
1.一種用于對油氣地下儲層進行電磁成像的設備,包括:
電磁能量源,其發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖;
多個電磁傳感器,其形成由所述電磁能量源所發射的脈沖的到達時間的測量值;
處理器,其用于對來自所述多個電磁傳感器的到達時間數據的測量值進行分析,以形成所述油氣地下儲層的地下特征的表征;和
顯示器,其形成所述油氣地下儲層的地下特征的表征的圖像。
2.根據權利要求1所述的設備,其中所述電磁能量源進一步包括發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖的多個電磁能量源。
3.根據權利要求2所述的設備,其中所述多個電磁能量源被安裝在下降到所述地下儲層的鉆井中的井下工具中。
4.根據權利要求3所述的設備,其中所述井下工具可移動至所述鉆井內的一系列位置以在所述位置處發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖。
5.根據權利要求2所述的設備,其中所述多個電磁能量源以陣列方式位于所述地下儲層之上的地表上。
6.根據權利要求1所述的設備,其中所述多個電磁傳感器被安裝在下降到所述地下儲層的鉆井中的井下工具中。
7.根據權利要求6所述的設備,其中所述井下工具可移動至所述鉆井內的一系列位置以形成由所述電磁能量源所發射的脈沖在所述位置處的到達時間的測量值。
8.根據權利要求1所述的設備,其中所述多個電磁傳感器以陣列方式位于所述地下儲層之上的地表上。
9.根據權利要求1所述的設備,其中所述處理器進一步對由所述多個電磁傳感器所感測到的電磁能量執行層析成像反演分析。
10.根據權利要求1所述的設備,其中所述處理器進一步對由所述多個電磁傳感器所感測到的電磁能量執行傅里葉分析,以確定所述電磁能量的作為頻率的函數的傳播時間。
11.根據權利要求1所述的設備,其中所述電磁能量源發射穿過所述油氣地下儲層的方波電磁能量脈沖。
12.根據權利要求1所述的設備,其中具有顆粒的注入流體被引入到所述儲層結構中以改變存在流體的所述儲層的磁特性,所述多個電磁傳感器形成由于存在流體的所述儲層的磁特性變化而引起的所發射的脈沖的被改變的到達時間的測量值。
13.一種對油氣地下儲層進行電磁成像的方法,包括步驟:
發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖;
在多個電磁傳感器處形成所發射的脈沖的到達時間的測量值;
對來自所述多個電磁傳感器的到達時間數據的測量值進行分析,以形成所述油氣地下儲層的地下特征的表征;
形成所述油氣地下儲層的地下特征的表征的圖像。
14.根據權利要求13所述的方法,其中發射電磁能量脈沖的步驟進一步包括從多個電磁能量源發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖的步驟。
15.根據權利要求14所述的方法,進一步包括將所述多個電磁能量源經由所述地下儲層中的鉆井下降至井下工具中的步驟。
16.根據權利要求15所述的方法,進一步包括將所述井下工具移動到所述鉆井中的一系列位置以在所述位置處發射穿過所述油氣地下儲層的電磁能量脈沖的步驟。
17.根據權利要求14所述的方法,進一步包括在所述地下儲層之上的地面上以陣列方式設置所述多個電磁能量源的步驟。
18.根據權利要求13所述的方法,進一步包括將所述多個電磁傳感器經由所述地下儲層中的鉆井下降至井下工具中的步驟。
19.根據權利要求18所述的方法,進一步包括將所述井下工具移動到所述鉆井中的一系列位置以形成由所述電磁能量源所發射的脈沖在所述位置處的到達時間的測量值的步驟。
20.根據權利要求13所述的方法,進一步包括在所述地下儲層之上的地面上以陣列方式設置所述多個電磁傳感器的步驟。
21.根據權利要求13所述的方法,其中所述分析步驟進一步包括對由所述多個電磁傳感器所感測到的所述電磁能量執行層析成像反演分析的步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于沙特阿拉伯石油公司,未經沙特阿拉伯石油公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201280060653.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:液晶透鏡和液晶透鏡用晶胞
- 下一篇:光學測量裝置





