[發明專利]導電性構件、處理盒和電子照相設備無效
| 申請號: | 201280058731.0 | 申請日: | 2012-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN103988132A | 公開(公告)日: | 2014-08-13 |
| 發明(設計)人: | 小出聰;松田秀和;宮川昇 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G03G15/02 | 分類號: | G03G15/02;G03G15/00;G03G15/08 |
| 代理公司: | 北京魏啟學律師事務所 11398 | 代理人: | 魏啟學 |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 導電性 構件 處理 電子 照相 設備 | ||
技術領域
本發明涉及導電性構件、使用所述導電性構件的處理盒和電子照相圖像形成設備(下文中稱作電子照相設備)。
背景技術
要用于電子照相設備中的充電輥等的輥形狀的導電性構件(下文中有時稱作導電性輥)設置有撓性層,從而在導電性構件和抵接構件如電子照相感光構件之間獲得適當的輥隙寬度(nip?width)。此類撓性層的實例為含有氣泡的多孔橡膠層。在該情況下,橡膠層中的氣泡通過例如添加發泡劑或中空顆粒而形成。
同時,在設置有此類橡膠層的導電性輥在與抵接構件抵接的狀態下長期靜止放置的情況下,可在抵接部發生不容易恢復的應變,即永久壓縮變形或壓縮永久變形(下文中有時稱作C永久變形)。特別地,在高溫高濕環境中,C永久變形的量易于增加。
在電子照相感光構件通過使用其中發生C永久變形的充電輥作為充電輥來充電的情況下,在其中已發生C永久變形的部分(下文中稱作C永久變形部)通過放電區域時,在導電性輥的表面與電子照相感光構件的表面之間的間隙中產生的放電變得不穩定。即,在導電性構件的C永久變形部和其中未發生C永久變形的部分之間產生充電能力的差異。結果,可在與導電性構件的C永久變形部對應的部位形成圖像濃度具有條紋狀不均勻的電子照相圖像(下文中稱作C永久變形圖像)。
作為能夠緩解由上述現象引起的C永久變形的充電構件,專利文獻1公開了一種充電構件,其由導電性發泡體形成并具有根據部位變化的平均氣泡直徑。
引用列表
專利文獻
專利文獻1:日本專利申請特開2006-154441號公報
發明內容
發明要解決的問題
本發明的發明人研究了根據專利文獻1的充電構件,并證實了對C永久變形的一定的抑制效果。然而,近年來,本發明的發明人意識到,必須開發其中幾乎不另外發生C永久變形的充電構件,從而滿足電子照相設備的高速化、高畫質化和高耐久化的需要。
本發明的目的在于提供其中幾乎不發生C永久變形的導電性構件。本發明的目的還在于提供能夠穩定地形成高品質電子照相圖像的處理盒和電子照相設備。
用于解決問題的方案
根據本發明的一個方面,提供有一種導電性構件,其包括導電性基體和彈性層,其中:所述彈性層包括內包有顆粒的獨立空孔(closed?cell);并且所述顆粒不固定于獨立空孔的內壁。
根據本發明的另一方面,還提供有一種處理盒,其包括上述導電性構件和與導電性構件一體化的被充電體,所述處理盒可拆卸地安裝至電子照相設備的主體。根據本發明,還提供包括上述導電性構件和被充電體的電子照相設備。
發明的效果
根據本發明,可獲得其中抑制C永久變形的發生的導電性構件。另外,根據本發明,可獲得能夠穩定地形成高品質電子照相圖像的處理盒和電子照相設備。
附圖說明
圖1A為根據本發明實施方案的輥形狀的導電性構件的截面圖。
圖1B為根據本發明另一實施方案的輥形狀的導電性構件的截面圖。
圖2為本發明中的彈性層的截面圖。
圖3A為示出根據本發明的內包有顆粒的獨立空孔的實施方案的示意圖。
圖3B為示出根據本發明的內包有顆粒且具有殼的獨立空孔的實施方案的示意圖。
圖4A為說明本發明中導電性輥的導電性樹脂層的厚度的測定位置的沿軸向的示意性截面圖。
圖4B為說明本發明中導電性輥的導電性樹脂層的厚度的測定位置的沿與軸向垂直的方向的示意性截面圖。
圖5為導電性輥的電阻的測定方法的說明圖。
圖6為根據本發明的電子照相設備的示意圖。
圖7為根據本發明的處理盒的示意圖。
圖8為設置有十字頭的擠出機的示意圖。
圖9為根據本發明導電性輥的制造用模具的說明圖。
圖10為示出導電性輥與電子照相感光構件之間的抵接狀態的示意圖。
具體實施方式
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