[發明專利]圖像處理裝置、圖像處理方法和程序

無效

• 申請號: 201280057914.0
• 申請日: 2012-11-22
• 公開（公告）號: CN103957810A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 鹿島浩司;坂口龍己;宮井岳志;梶畠博
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種圖像處理裝置，包括：

探測器，產生超聲波，并且接收在目標處反射的反射波；

傳感器單元，檢測所述探測器的一個或多個物理量；

顯示單元，基于由所述探測器接收的所述反射波顯示示出所述目標的預定位置的截面的斷層圖像；

斷層圖像產生單元，通過將由所述傳感器單元檢測的傳感器信息視為參數并且通過根據所述參數的變化變換參考斷層圖像來產生將在所述顯示單元上顯示的所述斷層圖像；以及

顯示控制單元，控制所述顯示單元以顯示通過所述斷層圖像產生單元產生的所述斷層圖像。

2.根據權利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述斷層圖像產生單元將至少部分所述傳感器信息用作輸入參數以計算預定函數，相應地獲得所述斷層圖像的深度、旋轉角度和變焦率中的至少一個可變元素，并且通過使用所述可變元素來變換所述參考斷層圖像以產生待顯示的所述斷層圖像。

3.根據權利要求2所述的圖像處理裝置，其中，所述傳感器單元檢測由所述探測器施加的壓力以作為所述傳感器信息，并且

所述斷層圖像產生單元將所述壓力的變化與距離所述目標的預定位置的深度的變化相關聯，以產生所述斷層圖像。

4.根據權利要求3所述的圖像處理裝置，其中，所述斷層圖像產生單元產生所述斷層圖像，從而所述探測器的所述壓力越強，所述斷層圖像距離所述目標的預定位置的所述深度越深。

5.根據權利要求2所述的圖像處理裝置，其中，所述傳感器單元檢測所述探測器的旋轉角度以作為所述傳感器信息，并且

所述斷層圖像產生單元將所述旋轉角度的變化與所述斷層圖像的所述旋轉角度和/或所述變焦率相關聯，以產生所述斷層圖像。

6.根據權利要求5所述的圖像處理裝置，其中，所述傳感器信息包括作為所述旋轉角度的X軸、Y軸和Z軸的每一個旋轉角度，并且

所述斷層圖像產生單元將所述X軸的所述旋轉角度的變化與所述斷層圖像的所述X軸的所述旋轉角度相關聯，將所述Y軸的所述旋轉角度的變化與所述斷層圖像的所述Y軸的所述旋轉角度相關聯，并且將所述Z軸的所述旋轉角度的變化與所述斷層圖像的所述變焦率相關聯，以產生所述斷層圖像。

7.根據權利要求6所述的圖像處理裝置，其中，所述斷層圖像產生單元產生所述斷層圖像，從而所述X軸的所述旋轉角度或所述Y軸的所述旋轉角度越大，所述斷層圖像的所述旋轉角度越大。

8.根據權利要求6所述的圖像處理裝置，其中，所述斷層圖像產生單元產生所述斷層圖像，從而所述Z軸的所述旋轉角度越大，所述斷層圖像的所述變焦率越大。

9.根據權利要求1所述的圖像處理裝置，其中，所述斷層圖像產生單元獲得關于在觸摸面板上的觸摸操作的信息作為參數，通過將所述變換與所述參數的變化相關聯來變換所述參考斷層圖像，以產生將顯示在所述顯示單元上的所述斷層圖像。

10.一種通過圖像處理裝置執行的圖像處理方法，所述圖像處理裝置包括產生超聲波并且接收在目標處反射的反射波的探測器，所述方法包括以下步驟：

檢測所述探測器的一個或多個物理量；

基于由所述探測器接收的所述反射波顯示示出所述目標的預定位置的截面的斷層圖像；

通過將所檢測的傳感器信息視為參數并且通過根據所述參數的變化變換參考斷層圖像來產生待顯示的所述斷層圖像；以及

控制以顯示所產生的斷層圖像。

11.一種可由控制圖像處理裝置的計算機讀取的程序，所述圖像處理裝置包括產生超聲波并且接收在目標處反射的反射波的探測器，所述程序使所述計算機執行以下步驟：

檢測所述探測器的一個或多個物理量；

基于由所述探測器接收的所述反射波顯示示出所述目標的預定位置的截面的斷層圖像；

通過將所檢測的傳感器信息視為參數并且根據所述參數的變化變換參考斷層圖像來產生待顯示的所述斷層圖像；以及

控制以顯示所產生的斷層圖像。