[發明專利]定位誘導的地下巖層裂縫中的示蹤支撐劑的與巖性和井眼狀況無關的方法

有效

• 申請號: 201280054944.6
• 申請日: 2012-07-31
• 公開（公告）號: CN104114811B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: H.D.小史密斯
• 申請（專利權）人: 卡博陶粒有限公司
• 主分類號: E21B43/267
• 分類號: E21B43/267
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 李強,傅永霄

1.一種用于結合由井眼穿過的可開裂的地下巖層而使用的測井方法，包括以下步驟：

利用一個或多個測井工具設備執行壓裂前測井操作和壓裂后測井操作，所述測井工具設備具有中子發射源和定位成離所述中子發射源有不同距離的多個熱中子或俘獲γ射線測井探測器，其中執行壓裂前和壓裂后測井操作中的每一個包括移動所述測井工具設備穿過所述井眼并且分別生成a)壓裂前近探測器計數率記錄和壓裂前遠探測器計數率記錄，即BF計數率記錄和b)壓裂后近探測器計數率記錄和壓裂后遠探測器計數率記錄，即AF計數率記錄；

基于所述BF計數率記錄產生壓裂前近/遠計數率比率記錄，即BFN/F比率記錄；

基于所述AF計數率記錄產生壓裂后近/遠計數率比率記錄，即AFN/F比率記錄；

針對所述壓裂前和壓裂后測井操作之間的在井眼流體、測井工具和中子源輸出中的一個或多個方面的任何變化通過修正所述BF計數率記錄而產生修正BF計數率記錄；

針對所述壓裂前和壓裂后測井操作之間的在井眼流體、測井工具和中子源輸出中的一個或多個方面的任何變化通過修正所述BFN/F比率記錄而產生修正BF比率記錄；

比較所述AFN/F比率記錄和修正BF比率記錄以確定近/遠計數率比率差異，即N/F比率差異；

基于所確定的N/F比率差異來計算近探測器和/或遠探測器計數率差異作為與巖性無關且/或與井眼狀況無關且經氫指數修正的計數率差異；

使所計算的近探測器和/或遠探測器計數率差異與相應的經修正的BF計數率記錄組合來產生調整的壓裂前近探測器和/或遠探測器計數率記錄，其為與巖性無關且/或與井眼狀況無關且經氫指數修正的壓裂前計數率記錄；

將所述調整的壓裂前近探測器和/或遠探測器計數率記錄與相應的AF計數率記錄相比較，以確定含有高熱中子俘獲截面材料的支撐劑在巖層裂縫和/或鄰近開裂巖層的井眼區域中的高度/位置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述計算步驟中，使用在不包含示蹤支撐劑的井區間中由測井探測器所探測的相應近和/或遠探測器中的壓裂后計數率與壓裂后近/遠比率之間的關系來計算所述近和/或遠探測器計數率差異。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述計算步驟中，使用在不包含示蹤支撐劑的井區間中由測井探測器所探測的相應近和/或遠探測器中的經修正的壓裂前計數率與經修正的壓裂前近/遠比率之間的關系來計算所述近和/或遠探測器計數率差異。

4.一種用于結合由井眼穿過的可開裂的地下巖層而使用的測井方法，包括以下步驟：

利用一個或多個測井工具設備執行壓裂前測井操作和壓裂后測井操作，所述測井工具設備具有中子發射源和定位成離所述中子發射源有不同距離的多個熱中子或俘獲γ射線測井探測器，其中執行壓裂前和壓裂后測井操作中的每一個包括移動所述測井工具設備穿過所述井眼并且分別生成a)壓裂前近探測器計數率測量值和壓裂前遠探測器計數率測量值，即BF計數率和b)壓裂后近探測器計數率測量值和壓裂后遠探測器計數率測量值，即AF計數率；

基于所述BF計數率產生壓裂前近/遠計數率比率測量值，即BFN/F比率；

基于所述AF計數率產生壓裂后近/遠計數率比率測量值，即AFN/F比率；

比較所述AFN/F比率和所述BFN/F比率來確定近/遠計數率比率差異，即N/F比率差異；

使用所述N/F比率差異來計算在BF計數率和AF計數率之間的近和/或遠探測器計數率差異；

使所計算的近和/或遠探測器計數率差異與BF計數率或AF計數率的相應計數率組合來產生調整壓裂前計數率，即MBF計數率，作為與巖性無關且/或與井眼狀況無關且經氫指數修正的壓裂前計數率，或調整壓裂后計數率，即MAF計數率，作為與巖性無關且/或與井眼狀況無關且經氫指數修正的壓裂后計數率；

將MBF計數率與AF計數率相比較或者將MAF計數率與BF計數率相比較，以確定含有高熱中子俘獲截面材料的支撐劑在巖層和/或鄰近開裂巖層的井眼區域和/或鄰近所述開裂巖層的井眼區域中的高度/位置；

對于井眼中的不同深度區間重復所述方法。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，根據在不包含示蹤支撐劑的井區間中由測井探測器所探測的相應近和/或遠探測器中的壓裂后計數率與AFN/F比率之間的關系來計算所述近和/或遠探測器計數率差異。