[發明專利]半導體器件及其制造方法有效
| 申請號: | 201280054479.6 | 申請日: | 2012-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN103918080A | 公開(公告)日: | 2014-07-09 |
| 發明(設計)人: | 增田健良;和田圭司;日吉透;松川真治 | 申請(專利權)人: | 住友電氣工業株式會社 |
| 主分類號: | H01L29/12 | 分類號: | H01L29/12;H01L21/336;H01L29/78 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 李蘭;孫志湧 |
| 地址: | 日本大阪*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體器件(1),包括:
襯底(10),所述襯底(10)由碳化硅制成并且具有在所述襯底(10)中形成的第一溝槽(16)和第二溝槽(17),所述第一溝槽(16)在一個主表面(10a)一側具有開口,所述第二溝槽(17)在所述主表面(10a)一側具有開口并且比所述第一溝槽(16)淺;
柵極絕緣膜(20),所述柵極絕緣膜(20)被設置在所述第一溝槽(16)的壁表面(16a)上并且與所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a)接觸;
柵電極(30),所述柵電極(30)被設置在所述柵極絕緣膜(20)上并且與所述柵極絕緣膜(20)接觸;以及
接觸電極(50),所述接觸電極(50)被設置在所述第二溝槽(17)的壁表面(17a)上并且與所述第二溝槽(17)的所述壁表面(17a)接觸,
所述襯底(10)包括
源極區(15),所述源極區(15)包括所述襯底(10)的所述主表面(10a)和所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a),
體區(14),所述體區(14)與所述源極區(15)接觸并且包括所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a),以及
漂移區(13),所述漂移區(13)與所述體區(14)接觸并且包括所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a),
所述第一溝槽(16)被形成為延伸通過所述源極區(15)和所述體區(14)并且到達所述漂移區(13),
所述第二溝槽(17)被形成為延伸通過所述源極區(15)并且到達所述體區(14)。
2.根據權利要求1所述的半導體器件(1),其中,所述接觸電極(50)被設置為不在所述襯底(10)的所述主表面(10a)上并且不與所述襯底(10)的所述主表面(10a)接觸。
3.根據權利要求1或2所述的半導體器件(1),其中,所述第二溝槽(17)的所述壁表面(17a)由與{0001}面交叉的面構成。
4.根據權利要求1-3中的任何一項所述的半導體器件(1),其中,在包括所述第一和第二溝槽(16,17)的所述襯底(10)的厚度方向上的橫截面中,虛擬直線(A-A)與所述第一溝槽(16)的面向所述第二溝槽(17)的所述壁表面(16a)交叉,所述虛擬直線(A-A)從所述第二溝槽(17)的最底部處的所述壁表面(17a)起與{0001}面平行地延伸。
5.根據權利要求4所述的半導體器件(1),其中,在包括所述第一和第二溝槽(16,17)的所述襯底(10)的厚度方向上的橫截面中,所述虛擬直線(A-A)與所述第一溝槽(16)的面向所述第二溝槽(17)的所述壁表面(16a)交叉,而不與所述漂移區(13)交叉。
6.根據權利要求1-5中的任何一項所述的半導體器件(1),其中,所述襯底(10)的所述主表面(10a)由相對于{0001}面具有8°或者更小的偏離角的面構成。
7.根據權利要求1-6中的任何一項所述的半導體器件(1),其中,所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a)相對于所述襯底(10)的所述主表面(10a)形成鈍角。
8.根據權利要求1-7中的任何一項所述的半導體器件(1),其中,所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a)由相對于{0001}面具有不小于50°且不大于65°的偏離角的面構成。
9.根據權利要求1-8中的任何一項所述的半導體器件(1),其中,所述體區(14)具有不小于1.0×1017cm-3并且不大于5.0×1018cm-3的雜質濃度。
10.一種用于制造半導體器件的方法,包括以下步驟:
制備由碳化硅制成并且具有主表面(10a)的襯底(10);
在所述襯底(10)中形成有源區;
形成在所述襯底(10)的所述主表面(10a)一側具有開口的第一溝槽(16);
形成在所述襯底(10)的所述主表面(10a)一側具有開口并且比所述第一溝槽(16)淺的第二溝槽(17);
將柵極絕緣膜(20)設置在所述第一溝槽(16)的壁表面(16a)上并且與所述第一溝槽(16)的所述壁表面(16a)接觸;
將柵電極(30)設置在所述柵極絕緣膜(20)上并且與所述柵極絕緣膜(20)接觸;并且
將接觸電極(50)設置在所述第二溝槽(17)的壁表面(17a)上并且與所述第二溝槽(17)的所述壁表面(17a)接觸,
在形成所述有源區的步驟中,形成源極區(15)、體區(14)、以及漂移區(13),所述源極區(15)包括所述襯底(10)的所述主表面(10a),所述體區(14)與所述源極區(15)接觸,所述漂移區(13)與所述體區(14)接觸,
在形成所述第一溝槽(16)的步驟中,具有所述壁表面(16a)的所述第一溝槽(16)被形成為延伸通過所述源極區(15)和所述體區(14),到達所述漂移區(13),并且暴露所述源極區(15)、所述體區(14)、以及所述漂移區(13),
在形成所述第二溝槽(17)的步驟中,所述第二溝槽(17)被形成為延伸通過所述源極區(15)并且到達所述體區(14)。
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