[發明專利]用于確定組織狀態的檢測裝置

有效

• 申請號: 201280054417.5
• 申請日: 2012-10-30
• 公開（公告）號: CN103917155B
• 公開（公告）日: 2017-02-15
• 發明（設計）人: M·米勒;B·H·W·亨德里克斯;G·W·呂卡森;J·J·L·霍里克斯
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 劉瑜,王英

1.一種用于確定組織的狀態的檢測裝置，所述檢測裝置(30)包括：

-熒光譜提供單元(2、3、23、28)，其用于提供所述組織(21)的熒光譜，

-微分單元(4)，其用于生成所述熒光譜的導數，

-組織狀態確定單元(5)，其用于根據所述導數來確定所述組織的狀態。

2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于基于僅在600nm到700nm的波長范圍中的導數來確定所述組織的狀態。

3.根據權利要求1所述的檢測裝置，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于確定所述組織處于第一狀態還是處于第二狀態，其中，所述第一狀態與第一波長相關，并且所述第二狀態與第二波長相關，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于基于第一度量來確定所述組織包括所述第一狀態還是包括所述第二狀態，所述第一度量取決于在所述第一波長附近的第一波長范圍之內的波長處的導數以及在所述第二波長附近的第二波長范圍之內的波長處的導數。

4.根據權利要求3所述的檢測裝置，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于基于如下中的至少一項來確定所述第一度量：i)a)小于所述第一波長且處在所述第一波長范圍之內的波長處的導數與b)大于所述第一波長且處在所述第一波長范圍之內的波長處的導數之間的第一差，ii)a)小于所述第二波長且處在所述第二波長范圍之內的波長處的導數與b)大于所述第二波長且處在所述第二波長范圍之內的波長處的導數之間的第二差。

5.根據權利要求4所述的檢測裝置，其中，所述第一波長在630nm到640nm的范圍之內，并且所述第二波長在620nm到630nm的范圍之內。

6.根據權利要求3所述的檢測裝置，其中，所述第一狀態和所述第二狀態中的至少一個與另外的波長相關，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于基于所述第一度量和另外的度量來確定所述組織包括所述第一狀態還是包括所述第二狀態，所述另外的度量取決于所述另外的波長附近的另外的波長范圍之內的波長處的導數。

7.根據權利要求6所述的檢測裝置，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于基于a)小于各自的另外的波長且處在各自的另外的波長范圍之內的波長處的導數與b)大于各自的另外的波長且處在各自的另外的波長范圍之內的波長處的導數之間的差來確定所述另外的度量。

8.根據權利要求6所述的檢測裝置，其中，所述另外的波長在675nm到685nm的范圍之內，或在685nm到695nm的范圍之內。

9.根據權利要求3所述的檢測裝置，其中，所述檢測裝置(30)包括組織類型提供單元(11)，所述組織類型提供單元用于提供待確定狀態的所述組織的類型，其中，所述組織狀態確定單元(5)適于根據所提供的組織類型來提供若干種預定義第一度量中的至少一個。

10.根據權利要求9所述的檢測裝置，其中，所述檢測裝置(30)包括：組織類型檢測照射單元(2、28)，所述組織類型檢測照射單元用于利用組織類型檢測光來照射所述組織；以及組織類型檢測光檢測單元(3、23)，所述組織類型檢測光檢測單元用于檢測來自所述組織的組織類型檢測光，其中，所述組織類型提供單元(11)適于根據所檢測的組織類型檢測光來檢測所述組織的類型。

11.一種用于向組織施加能量的能量施加裝置，所述能量施加裝置(1)包括：

-根據權利要求1所述的用于確定組織的狀態的檢測裝置(30)，以及

-組織修改單元(13、27、29)，其用于根據所確定的狀態，通過向所述組織施加能量來修改所述組織。

12.一種用于確定組織的狀態的檢測方法，所述檢測方法包括：

-提供所述組織的熒光譜，

-生成所述熒光譜的導數，

-根據所述導數來確定所述組織的狀態。

13.一種用于向組織施加能量的能量施加方法，所述能量施加方法包括：

-如權利要求12所述地確定組織的狀態，并且

-根據所確定的狀態通過向所述組織施加能量來修改所述組織。