[發明專利]磁性體評價裝置及其評價方法

有效

• 申請號: 201280054340.1
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN103930775B
• 公開（公告）日: 2016-10-12
• 發明（設計）人: 駒井正;鈴木裕;吉田清;室田浩平;石黑國朋;小池泰久;茂木秀夫
• 申請（專利權）人: 日產自動車株式會社
• 主分類號: G01N27/72
• 分類號: G01N27/72;H01F41/00
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種磁性體評價裝置，其特征在于，具有：

勵磁線圈，其產生相當于以下區域的范圍大小的磁場，該區域至少包括隔著絕緣物將多個磁片接合而成的磁體中的一個磁片和這個磁片與相鄰的其它磁片之間的絕緣物；以及

檢測線圈，其線圈直徑比一個上述磁片在上述磁片的排列方向上的長度小。

2.根據權利要求1所述的磁性體評價裝置，其特征在于，

還具有渦電流量判斷部，該渦電流量判斷部在由上述檢測線圈檢測出的渦電流量超過根據上述磁體中產生的渦電流與發熱量的關系預先求出的渦電流量的閾值的情況下判斷為不合格。

3.根據權利要求1或2所述的磁性體評價裝置，其特征在于，還具有：

移動部，其使上述磁體沿上述磁片的排列方向在上述磁場中連續地移動；以及

渦電流變化判斷部，其在一邊由上述移動部使上述磁體移動一邊由上述檢測線圈檢測出的渦電流量的變化存在特異點的情況下，判斷為不合格。

4.根據權利要求1～3中的任一項所述的磁性體評價裝置，其特征在于，

上述檢測線圈具有在上述多個磁片的排列方向上的線圈直徑不同的多個線圈，與成為評價對象的上述磁片在上述多個磁片的排列方向上的長度相應地切換上述多個線圈來使用。

5.一種磁性體評價方法，使用磁性體評價裝置來評價磁體，該磁性體評價裝置具有：勵磁線圈，其產生相當于以下區域的范圍大小的磁場，該區域至少包括隔著絕緣物將多個磁片接合而成的上述磁體中的一個磁片和這個磁片與相鄰的其它磁片之間的絕緣物；以及檢測線圈，其線圈直徑比一個上述磁片在上述磁片的排列方向上的長度小，該磁性體評價方法的特征在于，包括以下步驟：

根據上述磁體中產生的渦電流與發熱量的關系預先求出渦電流量的閾值；以及

對上述磁體施加由上述勵磁線圈產生的磁場，在由上述檢測線圈檢測出的渦電流量超過上述閾值的情況下判斷為不合格。

6.一種磁性體評價方法，使用磁性體評價裝置來評價磁體，該磁性體評價裝置具有：勵磁線圈，其產生相當于以下區域的范圍大小的磁場，該區域至少包括隔著絕緣物將多個磁片接合而成的上述磁體中的一個磁片和這個磁片與相鄰的其它磁片之間的絕緣物；檢測線圈，其線圈直徑比一個上述磁片在上述磁片的排列方向上的長度小；以及移動部，其使上述磁體沿上述磁片的排列方向在上述磁場中連續地移動，該磁性體評價方法的特征在于，

由上述移動部使上述磁體在由上述勵磁線圈產生的磁場中移動，在由上述檢測線圈檢測出的渦電流量的變化存在特異點的情況下判斷為不合格。