[發(fā)明專利]可變電阻裝置、測(cè)量橋電路和用于校準(zhǔn)測(cè)量橋電路的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201280053659.2
• 申請(qǐng)日: 2012-09-06
• 公開（公告）號(hào): CN104024870B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: I.赫爾曼;R.米勒-菲德勒;V.克呂格
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號(hào): G01R17/10
• 分類號(hào): G01R17/10;G01R35/00;G01D18/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 杜荔南,胡莉莉

1.可變電阻裝置（102），具有以下特征：

具有不變電阻值的第一器件（R_fix,2）；和

具有可變電阻值的憶阻器（M），該憶阻器與第一器件（R_fix,2）并聯(lián)，以便改變電阻裝置（102）的總電阻值。

2.測(cè)量橋電路（100），具有以下特征：

第一分支，其具有串聯(lián)的第一電阻（R₂(x)）和不變電阻（Rfix，1），其中在第一電阻（R₂(x)）和不變電阻（R_fix,1）之間布置第一截取點(diǎn)（104）；和

第二分支，其具有串聯(lián)的第二電阻（R₁(x)）和根據(jù)權(quán)利要求1所述的可變電阻裝置（102），其中在第二電阻（R₁(x)）和電阻裝置（102）之間布置第二截取點(diǎn)（106），其中第一分支和第二分支并聯(lián)并且在第一截取點(diǎn)（104）和第二截取點(diǎn)（106）之間能布置測(cè)量儀器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)量橋電路（100），其中第一電阻（R₂(x)）和/或第二電阻（R₁(x)）是測(cè)量參量敏感電阻，所述測(cè)量參量敏感電阻被構(gòu)造為將傳感器處的物理參量的改變反映在電阻值的對(duì)應(yīng)改變中。

4.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的測(cè)量橋電路（100），其中可變電阻裝置（102）具有至少一個(gè)能從外部接近的校準(zhǔn)端子。

5.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的測(cè)量橋電路（100），其中在第一截取點(diǎn)（104）和第二截取點(diǎn)（106）之間布置電壓測(cè)量裝置。

6.用于校準(zhǔn)根據(jù)權(quán)利要求2至5之一所述的測(cè)量橋電路（100）的方法（200），其中該方法具有以下步驟：

當(dāng)?shù)谝浑娮瑁≧₂(x)）經(jīng)受物理校準(zhǔn)參量并且第二電阻（R₁(x)）同樣經(jīng)受物理校準(zhǔn)參量時(shí)，確定（202）測(cè)量儀器的測(cè)量值；和

改變（204）可變電阻裝置（102）的憶阻器（M）的電阻值，直至測(cè)量值在公差范圍中在預(yù)先確定的值附近為止，以便校準(zhǔn)測(cè)量橋電路（100）。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法（200），其中在改變（204）步驟中一直持續(xù)地增大電阻值，直至測(cè)量值離開公差范圍為止，并且在測(cè)量值進(jìn)入公差范圍和測(cè)量值離開公差范圍之間的電阻值的間隔被確定，其中電阻值接著在所述間隔的預(yù)先確定的部分、尤其是一半附近被持續(xù)減小，和/或

其中在改變（204）步驟中電阻值被一直持續(xù)減小，直至測(cè)量值離開公差范圍為止，并且在測(cè)量值進(jìn)入公差范圍和測(cè)量值離開公差范圍之間的電阻值的間隔被確定，其中電阻值接著在所述間隔的預(yù)先確定的部分、尤其是一半附近被持續(xù)增大，以便校準(zhǔn)測(cè)量橋電路（100）。

8.控制設(shè)備，其被構(gòu)造為執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求6至7之一所述的方法的步驟。

9.計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其具有用于執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求6至7之一所述的方法的程序代碼，其中所述程序在設(shè)備或者控制設(shè)備上被實(shí)施。