[發明專利]包括濾光器的測定裝置和一種測定方法

在審

• 申請號: 201280052574.2
• 申請日: 2012-08-30
• 公開（公告）號: CN104040340A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: N.J.康普貝爾;K.E.莫拉維克;B.J.理查森
• 申請（專利權）人: 超新星診斷公司
• 主分類號: G01N33/52
• 分類號: G01N33/52;G01N33/53;G01N33/558
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉金鳳;劉春元

1.一種用于使得能夠對分析物執行測試的測定裝置，所述裝置具有用于施加一定數量的所述分析物的施加區、廢料區以及用于允許所述分析物從所述施加區到所述廢料區的通過的通道，所述測定裝置包括至少在被活化時將發射或者修改光并且將結合到所述分析物的一定數量的標記材料，所述通道還包括具有一定數量的捕獲材料、位于所述施加區與所述廢料區之間的捕獲區，所述捕獲材料被結合到所述通道并且將結合到沿著所述通道通過的分析物，以使得所述分析物將被結合到所述通道，所述測定裝置在其一側具有第一濾光器以用于允許透射由所述標記材料所發射或者修改的光以及用于阻擋至少一個其它波長范圍的光，以便使得所述測定裝置能夠被從其一側被照射并且以便由位于所述通道中的所述標記材料發射或者修改的光被從其相對側被檢測。

2.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括位于其將被照射的側上的第二濾光器，所述第二濾光器具有與所述第一濾光器的光學透射特性不同的光學透射特性。

3.如權利要求2中所述的測定裝置，其中所述第二濾光器將允許透射與所述第一濾光器所透射的光相比具有更短的波長的光。

4.如權利要求3中所述的測定裝置，其中所述標記材料是熒光材料或磷光材料或其前體，并且所述第一濾光器將僅允許透射被所述標記材料修改后的光。

5.如權利要求1中所述的測定裝置，其中所述第一濾光器將允許透射對應于由不同的標記材料發射或者修改的光的不同波長的光。

6.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括位于所述通道上的不同位置處的多個不同的濾光器。

7.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括用于不同分析物的通過的多個通道。

8.如權利要求7中所述的測定裝置，其包括用于允許透射由所述標記材料發射或者修改的光的多個不同的濾光器，每個這樣的濾光器與不同的通道相關聯。

9.如權利要求1中所述的測定裝置，其中所述標記材料被保持在標記區中，所述標記區位于所述施加區與所述捕獲區之間。

10.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括位于所述捕獲區與所述廢料區之間的過程控制區，以使得能實現在所述過程控制區處對所述通道的可視檢查，以便確定所述分析物通過的程度。

11.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括用于使得所述分析物能夠沿著所述通道通過而至所述廢料區的載體的儲存器。

12.如權利要求11中所述的測定裝置，其中所述儲存器是手動可破裂的。

13.如權利要求12中所述的測定裝置，其中所述儲存器采用泡囊、泡罩包裝或袋囊的形式。

14.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括用于接收控制樣品并且允許所述控制樣品通過到所述捕獲區的附加的通道。

15.如權利要求1中所述的測定裝置，其包括彼此大致平行地從施加區延伸到廢料區的多個通道，所述通道包含不同的捕獲材料以使得能夠對多個不同的分析物執行測試。

16.如權利要求1中所述的測定裝置，其被布置用于使得能夠對所述分析物執行橫向流測試或微流體測試。

17.一種用于執行測定的裝置，其包括如權利要求1中所述的測定裝置和用于檢測來自所述測定裝置的輸出的讀取器，所述讀取器包括具有能夠接納所述測定裝置的孔口的機身、用于一旦所述測定裝置被接納在所述讀取器中就從其一側照射所述測定裝置的光源、用于接收用于所述光源的電源的端子、位于所述機身中相對于所述光源在所述孔口的相對側以用于檢測已被所述測定裝置發射的光的光學檢測器、以及用于檢測由所述光學檢測器所檢測到的光的光功率的檢測器。

18.如權利要求17中所述的裝置，其中所述讀取器包括用于顯示定義由所述光學檢測器檢測到的光的光功率或者涉及所述測定裝置中的材料對光的吸收的數據的顯示器。

19.如權利要求17中所述的裝置，其中所述讀取器包括突起，所述突起在所述測定裝置被插入到所述孔口中時將使壓力被施加到所述測定裝置的一部分。