[發明專利]載波抑制光發生裝置有效
| 申請號： | 201280048152.8 | 申請日： | 2012-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN103842895A | 公開（公告）日： | 2014-06-04 |
| 發明（設計）人： | 坂井猛;牟禮勝仁;市川潤一郎 | 申請（專利權）人： | 住友大阪水泥股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/035 | 分類號： | G02F1/035;H04B10/516 |
| 代理公司： | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人： | 權太白;謝麗娜 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 載波 抑制 發生 裝置 | ||
1.一種載波抑制光發生裝置，其特征在于，具備：
第1分支構件，將所輸入的載波光分支成1A及1B兩束；
光調制器，對上述分支的一束載波光1A進行調制而輸出包含邊帶光的光；
相位調制器，對上述分支的另一束載波光1B進行相位調制；
第2分支構件，將上述光調制器的輸出光分支成2A及2B兩束；
第3分支構件，將上述第2分支構件的一束輸出光2A分支成3A及3B兩束；
合波構件，將上述第3分支構件的一束輸出光3B和上述相位調制器的輸出光合波；
第1光檢測構件，檢測上述合波構件的輸出光；
第2光檢測構件，檢測上述第2分支構件的另一束輸出光2B；和
控制構件，以使由上述第1光檢測構件檢測的光功率的時間波形的振幅最小、且由上述第2光檢測構件檢測的光功率的平均值最大的方式控制上述光調制器。
2.一種載波抑制光發生裝置，其特征在于，
具備：第1分支構件，將所輸入的載波光分支成1A及1B兩束；
光調制器，對上述分支的一束載波光1A進行調制而輸出包含邊帶光的光；
相位調制器，對上述分支的另一束載波光1B進行相位調制；
第2分支構件，將上述光調制器的輸出光分支成2A及2B兩束；
合波構件，將上述第2分支構件的一束輸出光2B和上述相位調制器的輸出光合波；
光檢測構件，檢測上述合波構件的輸出光；
f0_IM濾波器，通過上述合波構件使包含上述邊帶的輸出光2B與上述相位調制器的輸出光發生干涉，將其干涉光作為具有上述相位調制器的調制頻率fk的整數倍的干涉信號的光信號而由上述光檢測構件檢測并轉換成電信號后，從自上述光檢測構件輸出的電信號中僅提取調制頻率fk的整數倍的f0_IM成分；
平均值輸出濾波器，從自上述光檢測構件輸出的上述電信號中僅提取上述調制頻率fk以下的頻率成分；和
控制構件，基于來自上述兩個濾波器的輸出信號，向上述光調制器輸出控制信號，
上述控制構件以使來自上述f0_IM濾波器的輸出信號的時間波形的振幅最小、且來自上述平均值輸出濾波器的輸出信號的輸出最大的方式向上述光調制器輸出控制信號。
3.一種載波抑制光發生裝置，其特征在于，
具備：第1分支構件，將所輸入的載波光分支成1A及1B兩束；
光調制器，對上述分支的一束載波光1A進行調制而輸出包含邊帶光的光；
相位調制器，對上述分支的另一束載波光1B進行相位調制；
第2分支構件，將上述光調制器的輸出光分支成2A及2B兩束；
合分波構件，將上述第2分支構件的一束輸出光2B和上述相位調制器的輸出光合波后，以一定的分支比分支成M1及M2兩束；
第1光檢測構件，接收從上述合分波構件輸出的一束分支光M1，根據其光強度輸出電信號；
第2光檢測構件，接收從上述合分波構件輸出的另一束分支光M2，根據其光強度輸出電信號；
加法構件，將來自上述第1光檢測構件的電信號和來自上述第2光檢測構件的電信號相加并輸出；
減法構件，輸出來自上述第1光檢測構件的電信號與來自上述第2光檢測構件的電信號的差值；和
控制構件，基于來自上述加法構件的輸出信號和來自上述減法構件的輸出信號，向上述光調制器輸出控制信號，
上述控制構件以使來自上述減法構件的輸出信號的時間波形的振幅最小、且來自上述加法構件的輸出信號的DC成分最大的方式向上述光調制器輸出控制信號。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的載波抑制光發生裝置，其特征在于，上述光調制器是SSB調制器。
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