[發(fā)明專利]存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280046294.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103814299A | 公開(公告)日: | 2014-05-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 布萊恩·S·梅洛;約翰·P·托斯卡諾;湯姆·杜特姆貝爾;埃里克·L·特呂本巴赫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 泰拉丁公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 戚傳江;穆德駿 |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ) 設(shè)備 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),包括:
被構(gòu)造成接納供測(cè)試的至少兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試槽,所述至少兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備處于相同平面中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述相同平面包括第一相同平面,并且其中所述存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)還包括:
用于保持所述測(cè)試槽和另外的測(cè)試槽的支架,所述另外的測(cè)試槽中的至少一個(gè)被構(gòu)造成接納供測(cè)試的處于第二相同平面中的至少另外兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述測(cè)試槽具有縱向維度,并且其中所述相同平面是沿著所述縱向維度的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),還包括:
存儲(chǔ)設(shè)備輸送器,其被構(gòu)造成保持處于所述相同平面中的所述至少兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備,所述測(cè)試槽被構(gòu)造成接納所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器包括用于將所述至少兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備保持在所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器中的接合特征件。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中將所述至少兩個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備的每一個(gè)保持在所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器的不同區(qū)域中;并且
其中所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器的區(qū)域包括用于調(diào)節(jié)位于所述區(qū)域中的存儲(chǔ)設(shè)備的溫度的加熱元件。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器包括支撐結(jié)構(gòu);
其中支撐結(jié)構(gòu)包括隔離器;
其中所述隔離器位于所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器上與存儲(chǔ)設(shè)備容器的位置相對(duì)應(yīng)的位置;并且
其中所述隔離器用于衰減與所述存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)中的存儲(chǔ)設(shè)備相關(guān)聯(lián)的至少一些振動(dòng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述隔離器包括第一隔離器,所述存儲(chǔ)設(shè)備包括第一存儲(chǔ)設(shè)備,并且其中所述存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)還包括:
第二隔離器,其被構(gòu)造成衰減第二存儲(chǔ)設(shè)備的至少一些振動(dòng),所述衰減基本上獨(dú)立于所述第一隔離器對(duì)所述第一存儲(chǔ)設(shè)備的振動(dòng)的衰減。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述測(cè)試槽被構(gòu)造成接納供測(cè)試的兩個(gè)以上存儲(chǔ)設(shè)備。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器包括:
在用于將存儲(chǔ)設(shè)備保持在所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器中的兩個(gè)相鄰區(qū)域之間的插入器,所述插入器包括用于對(duì)接到存儲(chǔ)設(shè)備的配合連接器的連接器;
用于對(duì)接到所述測(cè)試槽的配合連接器的輸送器連接器;以及
所述插入器與所述輸送器連接器之間的電通路。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述插入器包括第一插入器,所述電通路包括第一電通路,并且其中所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器還包括:
第二插入器,所述第二插入器與用于保持存儲(chǔ)設(shè)備的區(qū)域相鄰并與所述輸送器連接器相鄰,所述第二插入器包括用于配合到所述存儲(chǔ)設(shè)備的相應(yīng)連接器的連接器;以及
所述第二插入器與所述輸送器連接器之間的第二電通路。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述第一插入器和所述第二插入器被構(gòu)造成將存儲(chǔ)設(shè)備維持在所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器中,處于相對(duì)于所述測(cè)試槽的相同的取向。
13.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述支架被構(gòu)造成將所述測(cè)試槽保持在基本上平行于支撐所述存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)的表面的取向中。
14.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述支架被構(gòu)造成將所述測(cè)試槽保持在基本上垂直于支撐所述存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)的表面的取向中。
15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),還包括:
至少一個(gè)自動(dòng)輸送器;
相對(duì)于所述至少一個(gè)自動(dòng)輸送器布置以便由所述至少一個(gè)自動(dòng)輸送器提供服務(wù)的多個(gè)支架;以及
由每個(gè)支架容納的多個(gè)測(cè)試槽,每個(gè)測(cè)試槽被構(gòu)造成接納存儲(chǔ)設(shè)備輸送器,所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器被構(gòu)造成承載供測(cè)試的多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備,所述多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備的每一個(gè)處于相同平面中。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試系統(tǒng),其中所述至少一個(gè)自動(dòng)輸送器包括被構(gòu)造成接合所述測(cè)試槽之一的所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器的操縱器,所述自動(dòng)輸送器可操作地將所述存儲(chǔ)設(shè)備輸送器承載到所述測(cè)試槽以測(cè)試所述多個(gè)存儲(chǔ)設(shè)備。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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