[發明專利]用于通過自動檢測入射輻射而控制光電探測器的方法

有效

• 申請號: 201280043527.1
• 申請日: 2012-07-09
• 公開（公告）號: CN103931171B
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: D·布朗雄;D·庫德;B·康迪亞德
• 申請（專利權）人: 曲克賽爾股份有限公司
• 主分類號: H04N5/32
• 分類號: H04N5/32;H04N5/353;H04N5/374;H04N5/232
• 代理公司: 北京戈程知識產權代理有限公司11314
• 代理人: 程偉,王錦陽

1.一種用于控制光敏器件(10)的方法，所述光敏器件(10)包括列導線(Y₁-Y₃)、行導線(X₁-X₃)以及光敏點(P_p)，每個光敏點(P_p)鏈接在所述列導線(Y₁-Y₃)和所述行導線(X₁-X₃)中的一條之間，并且包括適用于將光子流轉換成電荷的光敏元件(D_p)，以及由對應的行導線(X₁-X₃)控制的晶體管(T)，所述晶體管(T)在采集階段期間被控制在關斷狀態，在所述采集階段期間光子流被轉換成電荷，并且所述晶體管(T)在讀取階段期間依次被控制在開啟狀態，從而將電荷逐行轉移到所述列導線(Y₁-Y₃)，在關斷狀態下，每個晶體管(T)在對應的光敏元件(P_p)和列導線(Y₁-Y₃)之間引入雜散耦合電容(C)，所述方法的特征在于，所述方法包括步驟(21、22)，所述步驟(21、22)包括當所述晶體管(T)被控制在關斷狀態時，在不同的時刻t_n-2、t_n-1、t_n確定在所述列導線(Y₁-Y₃)上的電位。

2.根據權利要求1所述的方法，包括如下額外的步驟：

·當所述晶體管(T)被控制在關斷狀態時，在第二時刻t_n確定在所述列導線(Y₁-Y₃)上的電位(22)，

·確定在第一時刻t_n-1和第二時刻t_n之間在所述列導線(Y₁-Y₃)上的電位的差(23)，

·將電位差與預先確定的閾值進行比較(24)，

·如果所述電位差大于所述預先確定的閾值，則依次控制所述晶體管(T)，以便將每個光敏點(P_p)的電荷單個轉移到所述列導線(Y₁-Y₃)(25)。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述步驟(21、22)包括周期性地重復確定所述列導線(Y₁-Y₃)上的電位直到最后兩個確定時刻之間的電位差不大于所述預先確定的閾值，然后執行控制所述晶體管(T)的步驟(25)。

4.根據權利要求3所述的方法，其中連續兩次確定列導線上的電位的周期的持續時間(T_v)小于最小持續時間(d_x)，在所述最小持續時間期間所述光敏器件(10)能夠曝光于光子流。

5.根據權利要求2至4中的一項所述的方法，其中以避免在光敏元件(P_p)沒有曝光于光子流的情況下執行控制所述晶體管(T)的步驟(25)的方式，并且以避免在所述光敏元件(P_p)有效曝光之后未執行控制所述晶體管(T)的步驟(25)的方式，來確定所述閾值。

6.根據權利要求2所述的方法，其中對于確定電位的同一步驟(21、22)，連續多次確定在所述列導線(Y₁-Y₃)上的電位，在確定其與其他電位的差之前，平均不同的電位，從而降低與電位的確定相關聯的噪聲。

7.根據權利要求2所述的方法，其中所述光敏器件(10)包括若干列導線(Y₁-Y₃)，每個光敏點(P_p)連接在所述列導線(Y₁-Y₃)中的一條和行導線(X₁-X₃)中的一條之間，以便形成光敏點(P_p)的陣列(11)，在每個對應的步驟(21、22)中確定在若干列導線(Y₁-Y₃)上的電位，對于所述列導線(Y₁-Y₃)中的每一條執行確定電位差的步驟(23)，并且將所述電位差與所述預先確定的閾值進行比較的步驟(24)考慮所有的電位差。