[發明專利]壓縮元件撓曲的基于圖像的確定在審
| 申請號: | 201280043291.1 | 申請日: | 2012-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN103796592A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發明(設計)人: | A·戈森;H·S·黑澤 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/04 | 分類號: | A61B6/04 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;劉炳勝 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 壓縮 元件 撓曲 基于 圖像 確定 | ||
1.一種用于確定對象(10)的幾何參數的X射線成像系統元件(3),包括:
第一壓縮元件(8a);以及
第二壓縮元件(8b);
其中,所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)能夠相對于彼此移動;
其中,對象(10)能夠被引入到所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)之間;
其中,所述對象(10)能夠在所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)之間被壓縮;
其中,當所述對象(10)在所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)之間被壓縮時,所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)中的至少一個適于改變其幾何形狀和/或相對于所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)中的另一壓縮元件的對準;
其中,X輻射(12)能夠穿透所述第一壓縮元件(8a)、所述對象(10)和所述第二壓縮元件(8b);
其中,所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)中的至少一個包括至少一個至少部分X射線不透明的標記元件(24);
其中,所述標記元件(24)適于允許檢測相應的壓縮元件(8a、8b)的幾何形狀的改變。
2.根據前述權利要求所述的系統元件,其中,所述壓縮元件是平面壓縮元件。
3.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其中,所述第一壓縮元件和所述第二壓縮元件是板元件和X射線探測器(6),所述板元件尤其是用于乳房造影術系統的板元件。
4.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其包括至少3個標記元件;
其中,所述至少3個標記元件(24)被布置在單條標記線(26)內。
5.根據權利要求4所述的系統元件,其包括多條非等同標記線(26),每一標記線(26)包括至少三個標記元件(24)。
6.根據權利要求4或5中的任一項所述的系統元件,其包括至少七個標記元件(24);
其中,所述至少七個標記元件(24)被布置在至少三條非等同標記線(26)內。
7.根據權利要求4至6中的任一項所述的系統元件,其包括以下組合之一:七個標記元件和五條非等同標記線;八個標記元件和六條非等同標記線;九個標記元件和八個非等同標記線;以及九個標記元件和九條非等同標記線。
8.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其中,所述標記元件是鉛標記元件。
9.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其中,所述標記元件為圓形或球狀的。
10.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其中,所述對象(10)能夠非對稱地布置于所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)之間,由此定義了所述第一壓縮元件(8a)和所述第二壓縮元件(8b)的包括所述對象(10)的對象近側區域(20)以及不包括所述對象(10)的對象遠側區域(22);并且
其中,所述標記元件(24)被布置在所述對象遠側區域(22)內。
11.根據前述權利要求中的任一項所述的系統元件,其中,對相應的壓縮元件的所述幾何形狀的改變的檢測允許確定所述對象的幾何參數,尤其對象的高度或者所述第一壓縮元件和所述第二壓縮元件的距離。
12.一種X射線成像系統(2),尤其是乳房造影術系統,其包括前述權利要求中的任一項所述的系統元件(3)。
13.一種對前述權利要求中的任一項所述的系統元件(3)在X射線成像系統(2)之一當中的尤其是在乳房造影術系統當中的使用的方法。
14.一種用于確定壓縮元件的撓曲的方法(40),包括:
在執行圖像采集時接收(42)壓縮在第一壓縮元件和第二壓縮元件之間的對象的圖像信息,其中,所述圖像信息包括至少一個標記元件的圖像信息;
通過分析接收到的圖像信息中的標記元件圖像信息而確定(44)至少一個壓縮元件的幾何改變。
15.根據權利要求14所述的方法,還包括:
由至少一個壓縮元件的所述幾何改變確定(46)被壓縮在所述第一壓縮元件和所述第二壓縮元件之間的所述對象的厚度,其尤其用于對象密度評估。
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