[發明專利]磁共振攝像裝置、高頻磁場照射方法以及程序有效
| 申請號: | 201280041946.1 | 申請日: | 2012-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN103874457A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發明(設計)人: | 金子幸生;五月女悅久;尾藤良孝;竹內博幸;高橋哲彥;羽原秀太;大竹陽介 | 申請(專利權)人: | 株式會社日立醫療器械 |
| 主分類號: | A61B5/055 | 分類號: | A61B5/055;G01R33/34 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;郭鳳麟 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁共振 攝像 裝置 高頻 磁場 照射 方法 以及 程序 | ||
1.一種磁共振攝像裝置,其特征在于,具備:
靜磁場形成部,其形成靜磁場;
傾斜磁場施加部,其施加傾斜磁場;
高頻磁場發送部,其具有向被檢測體分別發送不同的高頻磁場的多個信道;
信號接收部,其從上述被檢測體接收所產生的核磁共振信號;
分布計算部,其根據在從上述高頻磁場發送部向上述被檢測體發送了上述高頻磁場后由上述信號接收部接收到的核磁共振信號,計算與第一軸垂直的第一分布測量截面的高頻磁場分布即第一高頻磁場分布;
條件計算部,其根據上述第一高頻磁場分布,計算成為攝像對象的任意攝像截面的攝像條件中的從上述多個信道分別照射的高頻磁場的相位和振幅的至少一方作為高頻磁場條件。
2.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述分布計算部還根據上述核磁共振信號,計算與上述第一軸垂直的第二分布測量截面的高頻磁場分布即第二高頻磁場分布,
上述條件計算部還根據第二高頻磁場分布,計算上述高頻磁場條件。
3.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述攝像截面是與和上述第一軸不同的第二軸垂直的截面,
上述條件計算部具備:分布提取部,其從上述第一高頻磁場分布中提取包含上述攝像截面和上述第一分布測量截面的交線的區域的高頻磁場分布即交叉區域高頻磁場分布,
使用上述交叉區域高頻磁場分布,計算上述攝像截面的上述高頻磁場條件。
4.根據權利要求2所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述攝像截面是與上述第一軸垂直并且與上述第一分布測量截面和上述第二分布測量截面的任意一個都不同的截面,
上述條件計算部通過對根據上述第一高頻磁場分布計算出的第一高頻磁場條件和根據上述第二高頻磁場分布計算出的第二高頻磁場條件進行內插,計算上述上述攝像截面的高頻磁場條件。
5.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第一軸的方向是在攝像空間內磁場分布的變化最少的方向。
6.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第一軸的方向是被檢測體的形狀變化最少的方向。
7.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第一軸的方向是軸向方向。
8.根據權利要求3所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第二軸與上述第一軸垂直。
9.根據權利要求8所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第一軸的方向是體軸方向,上述第二軸的方向是切向方向、或徑向方向。
10.根據權利要求3所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
包含上述交線的區域是比上述攝像截面的切片厚度大的區域。
11.根據權利要求10所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
包含上述交線的區域是以該交線為中心且寬度為10~80mm的長方形的區域。
12.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述條件計算部根據上述第一高頻磁場分布,計算通過將包含全部攝像截面的攝像區域在與上述攝像截面相同的方向上分割為預定數而得到的各劃分區域的上述高頻磁場條件,將上述劃分區域中的包含上述攝像截面的劃分區域的高頻磁場條件設為該攝像截面的高頻磁場條件。
13.根據權利要求1所述的磁共振攝像裝置,其特征在于,
上述第一分布測量截面是多個,
上述攝像截面是與上述第一軸垂直并且與多個上述第一分布測量截面的任意一個都不同的截面,
上述條件計算部還具備:平均值計算部,其針對多個上述第一分布測量截面,分別計算各第一分布測量截面內的高頻磁場值的平均值即磁場平均值,
調整上述各第一測量截面的高頻磁場條件使得各上述磁場平均值成為固定,通過對調整后的各上述高頻磁場條件進行內插,計算上述攝像截面的高頻磁場條件。
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