[發明專利]光學式分選機用滑槽有效
| 申請號: | 201280041357.3 | 申請日: | 2012-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN103796935A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發明(設計)人: | 伊藤隆文;宮本知幸 | 申請(專利權)人: | 株式會社佐竹 |
| 主分類號: | B65G11/00 | 分類號: | B65G11/00;B07C5/342 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 張敬強;嚴星鐵 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 分選 滑槽 | ||
技術領域
本發明涉及基于色彩等對谷物粒或樹脂顆粒等粒狀物進行分選的光學式分選機,尤其涉及在該光學式分選機中所使用的滑槽。
背景技術
以往,公知有如下光學式分選機,即、將米、麥類、豆類、堅果類等谷物粒、顆粒、珠等樹脂片、藥品、礦石類、火山土(シラス)等細小的物品、其他的由粒狀物構成的原料分選為良品和不良品、或者排除混入到原料中的異物等。
這種光學式分選機之一具有在粒狀物供給部的下方傾斜地配置具有規定寬度的滑槽的類型。
該光學式分選機從上述粒狀物供給部對具有上述規定寬度的滑槽供給大量的粒狀物,并對在該滑槽表面上沿寬度方向擴展地流下并且從該滑槽的下端沿規定的軌跡自由落下的上述粒狀物照射光,接受來自該粒狀物的反射光等并檢測出原料中所含的不良品或異物等,將該檢測出的不良品或異物等從上述規定的軌跡上排除,由此進行上述粒狀物的分選。
另外,就上述光學式分選機而言,在以如長粒種米那樣細長的形狀的粒狀物、或如蒸谷米那樣表面具有粘性的粒狀物等為原料的情況下,多個粒狀物相互重疊或結合,由此滑槽表面上的粒狀物的流動容易變得不均,其結果,存在如下問題,即、產生不良品等的檢測錯誤、或良品與不良品等一起卷入并被排除等的排除錯誤。
因此,在光學式分選機中,提出了以防止粒狀物的流動不均為目的的滑槽(參照專利文獻1。)。
圖7表示用于說明專利文獻1所記載的滑槽的示意圖。圖8表示圖7所記載的滑槽的側視圖。另外,圖9表示圖8的B部放大圖。
專利文獻1所記載的滑槽6具備部件61~64,該部件61~64由具有平坦表面的多個板狀構成。
該滑槽6通過將位于上游側的部件的下游側端部依次重疊于位于下游側的部件的上游側端部,以具有臺階的狀態組合上述多個部件61~64的各平坦表面,形成供粒狀物流下的表面。
根據上述滑槽6,粒狀物因從上述臺階落下時的沖擊而分散,因此能夠防止該滑槽表面上的粒狀物的流動不均。
然而,如圖9所示,上述滑槽6存在下述問題,即、從上述臺階落下的粒狀物容易產生跳起,在位于上述下游側的部件的表面上,上述粒狀物的流動不易穩定。
另外,就上述滑槽6而言,粒狀物從上述臺階落下時容易揚起粉塵,附著、堆積于臺階部的粉塵65有可能作為異物混入上述粒狀物,因此需要對上述臺階部進行定期清掃。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:美國專利申請公開第2010/0096300號說明書
發明內容
發明所要解決的課題
因此,本發明的目的在于提供一種不會產生粒狀物的跳起及粉塵的堆積、且能夠防止表面上的粒狀物的流動不均的滑槽。
另外,本發明的目的在于提供一種具備滑槽的光學式分選機,該滑槽不會產生粒狀物的跳起及粉塵的堆積、且能夠防止表面上的粒狀物的流動不均。
用于解決課題的方法
為了實現上述目的,本發明提供一種滑槽,是接受從供給部供給來的被分選物并使該接受的被分選物在表面上流下之后,使該被分選物從下端自由落下而向光學檢測部供給的光學式分選機用滑槽,其特征在于,具備:包含接受從上述供給部供給來的被分選物的部分的第一部分;以及從該第一部分連續且使上述被分選物從下端自由落下的第二部分,上述第一部分由一個部件構成,該第一部分具有供上述被分選物流下的多個平坦表面、以及使該多個平坦表面在上述被分選物流下的方向上以鈍角連接的連接面,通過使位于上游側的平坦表面向下折彎而形成上述連接面,并使該連接面向上折彎而形成位于下游側的平坦表面,從而在供上述被分選物流下的表面上形成平滑的起伏。
此外,本發明的滑槽優選形成為,配設在上述光學式分選機時的上述連接面的斜度不滿90度。
本發明的滑槽優選上述第一部分在該第一部分的下端具有上述連接面,并且能夠裝卸在包含上述第二部分的滑槽主體上,通過裝配于上述滑槽主體,經由在上述下端所具有的上述連接面而與上述第二部分平滑地連續。
本發明的滑槽優選上述第一部分和上述第二部分由一個部件形成為一體。
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