[發(fā)明專利]13族元素氮化物膜的剝離方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201280038697.0 | 申請日: | 2012-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN103732809A | 公開(公告)日: | 2014-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 巖井真;平尾崇行;吉野隆史 | 申請(專利權(quán))人: | 日本礙子株式會社 |
| 主分類號: | C30B29/38 | 分類號: | C30B29/38;C30B19/02;C30B33/08;H01L21/02;H01L33/00 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 李曉 |
| 地址: | 日本愛知縣名古*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 13 元素 氮化物 剝離 方法 | ||
1.一種13族元素氮化物膜的剝離方法,是對于在晶種基板上設(shè)有13族元素氮化物膜的層積體,從所述晶種基板的背面一側(cè)照射激光,通過激光剝離法,將所述13族元素氮化物膜從所述晶種基板剝離的方法,所述13族元素氮化物膜是在晶種基板上,通過助熔劑法,由含有助熔劑以及13族元素的熔液,在含氮?dú)夥障屡囵B(yǎng)而成;其特征在于,
所述13族元素氮化物膜含有:設(shè)置在所述13族元素氮化物膜的自所述晶種基板一側(cè)的界面起50μm以下的區(qū)域、分布有來自所述熔液成分的夾雜物的夾雜物分布層,以及設(shè)置在該夾雜物分布層上、所述夾雜物很少的夾雜物缺乏層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,沿著所述13族元素氮化物膜的橫截面觀察時(shí),所述夾雜物分布層中的所述夾雜物的最大面積在60μm2以下。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述13族元素氮化物為氮化鎵、氮化鋁或氮化鋁鎵。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述13族元素氮化物中含有鍺、硅、氧中的至少1個(gè),顯示n型。
5.根據(jù)權(quán)利要求1~4任意一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,將所述夾雜物分布層的厚度設(shè)為1時(shí),所述夾雜物缺乏層的厚度為20~0.1。
6.根據(jù)權(quán)利要求1~5任意一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述晶種基板具備有單晶基板以及設(shè)置在該單晶基板上的晶種膜,在所述晶種膜上培養(yǎng)所述13族元素氮化物膜,從所述單晶基板的背面一側(cè)照射所述激光,令所述13族元素氮化物膜剝離。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~6任意一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,將所述13族元素氮化物膜從所述晶種基板剝離后,除去所述夾雜物分布層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1~7任意一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,在所述13族元素氮化物膜上形成n型半導(dǎo)體層、發(fā)光區(qū)域以及p型半導(dǎo)體層,然后將所述13族元素氮化物膜從所述晶種基板剝離。
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