[發明專利]與檢測電磁信號發送有關的裝置和關聯方法有效
| 申請號: | 201280036999.4 | 申請日: | 2012-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN103733100A | 公開(公告)日: | 2014-04-16 |
| 發明(設計)人: | R·懷特 | 申請(專利權)人: | 諾基亞公司 |
| 主分類號: | G02B6/122 | 分類號: | G02B6/122;H01L31/028;G02B5/00;B82Y20/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
| 地址: | 芬蘭*** | 國省代碼: | 芬蘭;FI |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 電磁 信號 發送 有關 裝置 關聯 方法 | ||
1.一種裝置,包括:
用于檢測電磁信號發送的第一層,其中所述第一層包括石墨烯;以及
第二層,鄰近所述第一層定位,并且被配置用于響應于接收到電磁信號發送而經受等離子體激元諧振,以由此使所述第一層的所述石墨烯對接收的電磁信號發送的特定譜特性的檢測變靈敏,所述接收的電磁信號發送的所述特定譜特性對應于所述第二層的特定等離子體激元諧振。
2.根據權利要求1所述的裝置,其中所述特定譜特性包括以下各項中的一項或者多項:
所述接收的電磁信號發送的特定波長、所述接收的電磁信號發送的一個或者多個峰值波長、所述接收的電磁信號發送的一個或者多個峰值頻率、所述接收的電磁信號發送的一個或者多個空波長、所述接收的電磁信號發送的一個或者多個空頻率以及所述接收的電磁信號發送的偏振。
3.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第二層包括靈敏化區域陣列,所述靈敏化區域具有相應特定特性等離子體激元諧振參數,以由此使所述第一層的對應的相應鄰近區域對特定相應波長的檢測變靈敏。
4.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第二層被配置用于經受等離子體激元諧振以使所述第一層的所述石墨烯變靈敏,以便對應地改變所述第一層的所述石墨烯的一個或者多個光吸收特性。
5.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第一層的所述石墨烯的所述光吸收特性包括以下各項中的一項或者多項:
波長選擇性或者頻率選擇性以及吸收比。
6.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第二層包括以下各項中的一項或者多項:
納米空隙結構以及納米粒子結構。
7.根據權利要求6所述的裝置,其中所述第二層被配置用于根據所述納米空隙結構或者所述納米粒子結構的一個或者多個諧振參數來經受等離子體激元諧振。
8.根據權利要求7所述的裝置,其中所述諧振參數包括以下各項中的一項或者多項:
粒子直徑、空隙直徑、粒子間距、空隙間距、每單位體積的空隙密度、每單位體積的粒子密度、粒子分布、空隙分布、所述納米空隙結構的厚度、所述納米粒子結構的厚度以及在一種或者多種等離子體激元結構中使用的材料的性質。
9.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第一層相對于電磁信號發送的源被布置于所述第二層的上面或者下面。
10.根據權利要求1所述的裝置,其中所述第二層包括:
包括電介質襯底的第一子層;
包括傳導材料并且定位于所述第一子層上的第二子層;以及
包括等離子體激元結構的第三子層,所述第三子層定位于所述第二子層上,其中在所述第二層內的所述第一子層、所述第二子層和所述第三子層的布置由此被配置用于響應于接收到電磁信號發送而經受等離子體激元諧振,以由此使所述第一層的所述石墨烯對接收的電磁信號發送的特定譜特性的檢測變靈敏,所述接收的電磁信號發送的所述特定譜特性對應于所述第二層的特定等離子體激元諧振。
11.根據權利要求1所述的裝置,其中所述裝置是以下各項中的一項或者多項:
電子設備、便攜式電子設備、電子設備的模塊、便攜式電子設備的模塊、電子設備的護套、便攜式電子設備的護套、電子設備的模塊的護套以及便攜式電子設備的模塊的護套。
12.一種用于檢測電磁信號發送的計算機程序,所述計算機程序包括計算機程序代碼,所述計算機程序代碼被配置用于在處理器上運行時基于與鄰近所述第一層定位的第二層的特定等離子體激元諧振對應的接收的電磁信號發送、使用包括石墨烯的第一層來檢測具有特定譜特性的電磁信號發送的存在,所述第二層被配置用于響應于接收到所述電磁信號發送而經受等離子體激元諧振。
13.一種方法,包括:
提供用于檢測電磁信號發送的第一層,所述第一層包括石墨烯;以及
鄰近所述第一層定位第二層,所述第二層被配置用于響應于接收到電磁信號發送而經受等離子體激元諧振,以由此使所述第一層的所述石墨烯對接收的電磁信號發送的特定譜特性的檢測變靈敏,所述接收的電磁信號發送的所述特定譜特性對應于所述第二層的特定等離子體激元諧振。
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