[發明專利]搜索設備

在審

• 申請號: 201280036768.3
• 申請日: 2012-06-19
• 公開（公告）號: CN103688191A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: T.齊博爾德;A.阿爾布雷希特
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01V3/15
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 盧江;劉春元

1.用于物體（105）的電容檢測的搜索設備（205），包括：

－用于加載激勵信號的發射電極（225，230）；

－接收電極（235）；

－在所述發射電極（225，230）和所述接收電極（235）的范圍內的檢測范圍（130）；

－用于檢測所述發射電極（225，230）和所述接收電極（235）之間的電容的測量裝置（200）；

－用于假如所檢測的電容不同于參考電容則確定在所述檢測范圍（130）內所述物體（105）的存在的處理裝置（200），

其特征在于

－屏蔽電極（120），所述屏蔽電極被布置在所述發射電極（225，230）和所述接收電極（235）的范圍內并且與電位（Ф3）連接，以便減小所述發射電極（225，230）和所述接收電極（235）之間的基本電容。

2.根據權利要求1所述的搜索設備（205），其中所述屏蔽電極（120）被布置并且與所述電位（Ф3）連接，使得所述發射電極（225，230）和所述接收電極（235）之間的電容的由所述物體（105）所引起的區別是不變的。

3.根據權利要求1或2所述的搜索設備（205），其中所述檢測范圍（130）位于所述物體（105）對所述發射電極（225，230）和所述屏蔽電極（120）之間的電容的影響范圍之外。

4.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中所述發射電極（225，230）、所述接收電極（235）和所述屏蔽電極（120）被布置在一個平面內。

5.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中所述發射電極（225，230）、所述屏蔽電極（120）和所述接收電極（235）被徑向對稱地布置。

6.根據權利要求4或5所述的搜索設備（205），其中設置有第二屏蔽電極（120），該第二屏蔽電極在徑向上被布置在其它的電極（225-235，110）之外。

7.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中保護電極（405）被安置在所述發射電極（225，230）、所述接收電極（235）和所述屏蔽電極（120）的背離所述檢測范圍（130）的一側上。

8.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中所述測量裝置包括推挽測量電橋（200）。

9.根據權利要求8所述的搜索設備（205），其中所述推挽測量電橋被設立用于確定另外的發射電極（225，230）和所述接收電極（235）之間的或另外的發射電極（225，230）和另外的接收電極（235）之間的電容。

10.根據權利要求8或9所述的搜索設備（205），其中所述屏蔽電極（120）與電位（Ф3）連接，所述電位基本上對應于所述接收電極（235）的電位（Ф2）。

11.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中所述測量裝置（200）包括與所述接收電極（235）連接的低阻放大器（240）并且所述屏蔽電極（120）與電位（Ф3）連接，所述電位基本上對應于所述接收電極（235）的電位（Ф2）。

12.根據上述權利要求之一所述的搜索設備（205），其中所述測量裝置（200）包括與所述接收電極（235）連接的高阻放大器（240）并且所述屏蔽電極（120）與電位（Ф3）連接，所述電位基本上對應于所述接收電極（235）的電位（Ф2）。