[發(fā)明專利]增材構(gòu)造無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201280035939.0 | 申請日: | 2012-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN103858060A | 公開(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹森·布萊爾·瓊斯;格雷戈里·約翰·吉本斯 | 申請(專利權(quán))人: | 華威大學(xué) |
| 主分類號: | G03G15/16 | 分類號: | G03G15/16;G03G15/22;B41J3/407;B29C67/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 余剛;張英 |
| 地址: | 英國*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 構(gòu)造 | ||
1.一種用于構(gòu)造多個(gè)層以形成構(gòu)造疊層體的增材構(gòu)造方法,包括:
向轉(zhuǎn)印介質(zhì)提供帶電顆粒以沉積在連續(xù)的覆蓋層中,從而提供所述構(gòu)造疊層體,
將所述連續(xù)的覆蓋層的一層帶電顆粒沉積在襯底上,以提供第一層,
減小所述第一層的殘余電荷對于后續(xù)沉積在所述第一層上的第二層的排斥效果,并且
將所述第二層的帶電顆粒從所述轉(zhuǎn)印介質(zhì)沉積到所述第一層上,
執(zhí)行排斥效果的減小,以防止由連續(xù)沉積的層產(chǎn)生殘余電荷的累積,并提供這些層的均勻沉積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括施加電場以減小所述沉積的層上的殘余電荷的排斥效果。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,包括調(diào)節(jié)所述電場的布置以對所述連續(xù)沉積的層保持排斥效果的減小。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,包括通過施加電位差以產(chǎn)生所述電場,并根據(jù)沉積的層的數(shù)量和/或厚度增加所述電位差,來調(diào)節(jié)所述電場的布置。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的方法,包括通過在所述第一層和所述第二層之間引入導(dǎo)電層,來調(diào)節(jié)所述電場的布置。
6.根據(jù)前述任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法,其中,通過在沉積所述第二層之前使所述第一層放電,來克服所述排斥效果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,包括通過施加導(dǎo)電涂層使所述第一層放電。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中,所述導(dǎo)電涂層執(zhí)行層固定步驟。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,包括通過施加與所述殘余電荷的極性相反的帶電顆粒的另一層,使所述第一層放電。
10.根據(jù)前述任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法,包括,將離子從離子源引導(dǎo)至所述第一層上,所述離子的極性與所述殘余電荷的極性相反,以減小所述排斥效果。
11.一種用于構(gòu)造多個(gè)層以形成構(gòu)造疊層體的增材構(gòu)造方法,所述方法包括:
在第一電位的導(dǎo)電元件和第二電位的離子源之間產(chǎn)生可變的電位差;
在所述導(dǎo)電元件和所述離子源之間產(chǎn)生電場,其中,使所述電場通過所述構(gòu)造疊層體,到達(dá)所述構(gòu)造疊層體的最靠近轉(zhuǎn)印介質(zhì)的最近表面;
使電荷(Q)從所述離子源累積在所述構(gòu)造疊層體的所述最近表面上;并且
將沉積材料從所述轉(zhuǎn)印介質(zhì)轉(zhuǎn)印至所述最近表面上,其中,所述構(gòu)造疊層體的所述最近表面處的電場的強(qiáng)度是可控的,以在所述最近表面上實(shí)現(xiàn)所述沉積材料的均勻轉(zhuǎn)印。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,進(jìn)一步包括,改變所述導(dǎo)電元件和所述離子源之間的電位差電壓,以當(dāng)層的數(shù)量增加時(shí),增加所述最近表面處的電場的強(qiáng)度。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,進(jìn)一步包括:
將所述導(dǎo)電元件保持在所述第一電位;并且
改變所述離子源的所述第二電位,以改變所述電位差。
14.根據(jù)權(quán)利要求11至13中任一項(xiàng)所述的方法,進(jìn)一步包括在轉(zhuǎn)印步驟之前,使所述導(dǎo)電元件與所述第一電位分離。
15.根據(jù)權(quán)利要求11至14中任一項(xiàng)所述的方法,進(jìn)一步包括使轉(zhuǎn)印至自由表面的所述沉積材料熔化。
16.根據(jù)權(quán)利要求11至15中任一項(xiàng)所述的方法,進(jìn)一步包括:
引入中間導(dǎo)電平面作為所述構(gòu)造疊層體中的一層;
使所述中間導(dǎo)電平面與導(dǎo)電板耦接,以增加所述電場穿透所述構(gòu)造疊層體的深度。
17.根據(jù)權(quán)利要求11至16中任一項(xiàng)所述的方法,進(jìn)一步包括:
引入中間導(dǎo)電平面作為所述構(gòu)造疊層體中的一層;
對所述中間導(dǎo)電平面電容充電,以增加所述電場穿透所述構(gòu)造疊層體的深度。
18.根據(jù)權(quán)利要求16或17所述的方法,進(jìn)一步包括使所述中間導(dǎo)電平面絕緣。
19.根據(jù)權(quán)利要求16或17所述的方法,進(jìn)一步包括在所述構(gòu)造疊層體中沉積多個(gè)中間導(dǎo)電平面;
對所述多個(gè)中間導(dǎo)電平面中的至少一個(gè)進(jìn)行電容充電;并且
使所述多個(gè)中間導(dǎo)電平面中的至少一個(gè)與導(dǎo)電元件耦接,以增加所述電場的穿透深度。
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