[發明專利]電流傳感器

無效

• 申請號: 201280033007.2
• 申請日: 2012-07-04
• 公開（公告）號: CN103635818A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 瀨尾祐介;菊地直人;高木健一
• 申請（專利權）人: 豐田自動車株式會社
• 主分類號: G01R15/24
• 分類號: G01R15/24;G01R33/032;G01R19/15
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 賀月嬌;楊曉光

技術領域

本發明涉及電流傳感器，更具體地，涉及利用磁性薄膜通過光檢測電流的電流傳感。

背景技術

對于使用光的電流測量裝置，建議了一種電流測量裝置（例如，參見日本專利申請公開No.7-174790（JP7-174790A））。在該電流測量裝置中，從光源發射的光被偏振器轉換成線性偏振光，所述線性偏振光的偏振方向由于磁光效應被磁光元件旋轉，具有任何偏振方向的線性偏振光被檢偏器分離成兩個正交偏振分量并且然后在不同的方向上被發射，于是被分離成兩個偏振分量的光束的強度分別單獨地被兩個感光器轉換成電信號。

此外，對于檢測流過匯流條（bus?bar）的電流的值的電流傳感器，已經公開了一種技術：在保持磁芯的芯保持器上設置凸起（boss），匯流條具有裝配到所述凸起的孔，于是磁芯被固定地定位在匯流條上（例如，參見日本專利申請公開No.2008-275566（JP2008-275566A））。

發明內容

用于從磁盤或磁光盤讀取信息或向其寫入信息的、利用磁性薄膜的通過光進行的電流檢測具有這樣的特征：電流檢測的靈敏度取決于向磁性膜施加磁場的方向而變化。即，當在組裝電流傳感器時檢測磁場的磁性薄膜的安裝位置有偏差時，向磁性薄膜施加磁場的方向也有偏差，因此磁性薄膜的磁化的容易程度改變。因此，在磁性薄膜的特性之間存在差異。例如，一些磁性薄膜被較小的磁場磁化，另一些磁性薄膜除非施加大的磁場才被磁化。磁性薄膜的特性之間的差異直接顯現為電流傳感器的特性，因此電流傳感器的特性可能彼此有偏差。

本發明提供了一種電流傳感器，該電流傳感器抑制了傳感器的特性的差異，從而使得可以提高檢測電流的精確度。

本發明的一方面涉及一種用于檢測流過匯流條的電流的電流傳感器。所述電流傳感器包括：基座，其被附到所述匯流條；磁性薄膜，其被安裝在所述基座上；發光裝置，其向所述磁性薄膜照射光；感光裝置，其檢測從所述發光裝置照射到所述磁性薄膜且從所述磁性薄膜反射的光；計算裝置，其將所述感光裝置檢測到的光信號轉換成流過所述匯流條的電流；以及旋轉限制部，其限制所述磁性薄膜相對于所述匯流條的相對旋轉。

在該電流傳感器中，所述旋轉限制部可以包括安裝位置限制部和基座固定部，所述安裝位置限制部限制所述磁性薄膜在所述基座上的安裝位置，所述基座固定部限制所述基座相對于所述匯流條的相對旋轉。

在該電流傳感器中，所述安裝位置限制部可以具有圍繞所述磁性薄膜的壁部。

在該電流傳感器中，所述基座固定部可以具有基準銷，所述基準銷從所述基座朝向所述匯流條凸出并且被插入形成于所述匯流條中的基準孔中。

所述電流傳感器還可以包括：限制部件，其限制照射到所述磁性薄膜的入射光的路徑相對于所述磁性薄膜的表面的角度以及從所述磁性薄膜反射的反射光的路徑相對于所述磁性薄膜的所述表面的角度。

根據本發明的該方面，該電流傳感器能夠抑制傳感器的特性的差異，由此使得可以提高電流檢測精確度。

附圖說明

下面將參考附圖描述本發明示例性實施例的特征、優點以及技術和工業重要性，在附圖中相似的附圖標記表示相似的部件，其中：

圖1是示出根據本發明實施例的電流傳感器的配置的橫截面視圖；

圖2是該電流傳感器的平面圖；

圖3是沿著圖2中的III-III線截取的電流傳感器的橫截面視圖；

圖4是電流傳感器的分解透視圖；

圖5是示出在電流傳感器中使用的光學系統的配置的示意圖；

圖6是示出磁性薄膜被定位的狀態的示意性平面圖；以及

圖7是示出磁性薄膜未對準的狀態的示意性平面圖。

具體實施方式

下文中，將參考附圖描述本發明的實施例。注意，在圖中，相似的附圖標記表示相同或相應的部件，并且不重復對它們的描述。

圖1是示出根據本實施例的電流傳感器1的配置的橫截面視圖。圖2是電流傳感器1的平面圖。圖3是沿著圖2中的III-III線截取的電流傳感器1的橫截面視圖。圖4是電流傳感器1的分解透視圖。將參考圖1-圖4描述根據本實施例的電流傳感器1的配置。

電流傳感器1用于檢測流過長的纖細棒形導電匯流條100的電流。電流傳感器1包括磁性薄膜20。磁性薄膜20由具有磁晶各向異性的材料制成。磁性薄膜20被安裝在基座10上。