[發明專利]具有光學不均勻性的測定的評估方法及裝置

有效

• 申請號: 201280031638.0
• 申請日: 2012-04-23
• 公開（公告）號: CN103620392B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: T·H·埃弗斯;D·J·W·克隆德;J·H·尼烏文赫伊斯;J·B·A·D·范佐恩
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01N21/94
• 分類號: G01N21/94;G01N21/55;G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 劉瑜,王英

1.一種用于評估利用樣本執行的測定的方法，所述方法包括如下步驟：

a)在感測表面(112)處進行光學測量，這包括生成所述感測表面(112)的被稱為“均勻性圖像”的至少一幅圖像；

b)確定所述均勻性圖像的至少一個感興趣區域(ROI)之內的圖像均勻性的指標，其中，所述圖像均勻性是指圖像值在所述感興趣區域(ROI)內的展開；

c)根據所述均勻性指標評估所述光學測量，其中，如果至少一個感興趣區域(ROI)的所述均勻性指標偏離給定目標范圍，則所述光學測量：

-完全被拒絕，

-相對于各自感興趣區域(ROI)被拒絕，或

-相對于各自感興趣區域(ROI)的子區域被拒絕。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述測定包括所述樣本的目標成分(1)與所述感測表面(112)上的至少一個結合部位(S)的特異性結合。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述感測表面(112)處的所述光學測量包括生成所述感測表面(112)的多幅圖像。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，由特征檢測程序確定所述均勻性的指標。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，根據所述感興趣區域(ROI)中的圖像值的直方圖來確定所述均勻性指標。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，根據與參考數據的比較來確定所述均勻性指標。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述參考數據是所述感興趣區域的參考圖像。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，在所述測定的開始時、在所述測定的結束時和/或在所述測定期間生成所述均勻性圖像。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，所述光學測量的評估基于在所述測定的不同階段期間生成的均勻性圖像的比較。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，所述不同階段包括在由樣本潤濕所述感測表面(112)之前和之后的階段。

11.根據權利要求1所述的方法，其中，通過被拒絕的所述感興趣區域(ROI)的所述子區域的圖像值與圖像值的給定范圍的偏離來識別所述子區域。

12.一種用于執行和評估利用樣本的測定的傳感器設備(100)，包括：

a)具有能夠由所述樣本接觸的感測表面(112)的載體(110)；

b)用于在所述感測表面(112)處進行光學測量的光學傳感器單元(151、152、153)，所述傳感器單元包括圖像傳感器(153)，通過所述圖像傳感器能夠生成所述感測表面(112)的圖像；

c)評估單元(170)，所述評估單元耦合到所述光學傳感器單元，并適于：

-確定在由所述圖像傳感器(153)生成的所述感測表面(112)的“均勻性圖像”的至少一個感興趣區域(ROI)之內的圖像均勻性的指標，其中，所述圖像均勻性是指圖像值在所述感興趣區域(ROI)內的展開；

-根據所述均勻性指標評估由所述光學傳感器單元(151、152、153)提供的所述光學測量，其中，如果至少一個感興趣區域(ROI)的所述均勻性指標偏離給定目標范圍，則所述光學測量：

-完全被拒絕，

-相對于各自感興趣區域(ROI)被拒絕，或

-相對于各自感興趣區域(ROI)的子區域被拒絕。

13.根據權利要求12所述的傳感器設備(100)，其中，所述測定包括所述樣本的目標成分(1)與所述感測表面(112)上的至少一個結合部位(S)的特異性結合。

14.根據權利要求12所述的傳感器設備(100)，其中，所述感測表面(112)處的所述光學測量包括生成所述感測表面(112)的多幅圖像。

15.根據權利要求12所述的傳感器設備(100)，其中，由特征檢測程序確定所述均勻性的指標。

16.根據權利要求12所述的傳感器設備(100)，其中，根據所述感興趣區域(ROI)中的圖像值的直方圖來確定所述均勻性指標。

17.根據權利要求12所述的傳感器設備(100)，其中，根據與參考數據的比較來確定所述均勻性指標。