[發明專利]用于測定軋件的厚度的方法以及設備

有效

• 申請號: 201280024992.0
• 申請日: 2012-05-04
• 公開（公告）號: CN103547386A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 安德烈亞斯·邁爾霍費爾
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: B21B38/04
• 分類號: B21B38/04;G01B15/02;G01B17/02
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;李慧

1.一種用于測定在借助軋機列軋制軋件（4）時的所述軋件（4）的、特別是軋制帶材的或金屬板的厚度（d）的方法，其中

-借助射線測量系統（8）無接觸地測量對于所述厚度（d）的基本測量值（G），其中所述射線測量系統（8）集成在所述軋機列中，

-借助超聲波測量頭（24）測量對于所述厚度（d）的參考測量值（R），同樣所述超聲波測量頭集成在所述軋機列中，以及

-為了消除所述基本測量值（G）的誤差影響引入所述參考測量值（R）。

2.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述射線測量系統（8）的射線源（12）和射線探測器（16）由保持機械結構（6）承載，其中所述超聲波測量頭（24）布置在所述保持機械結構（4）上。

3.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中用于測量所述軋件（4）的所述厚度（d）的所述超聲波測量頭（24）向所述軋件（4）運動。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中借助所述射線測量系統（8）在短暫的幾秒或幾分之一秒的時間間隔內、特別是連續地進行射線測量。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中與所述射線測量相比超聲波測量在更大的時間間隔內進行。

6.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中在所述軋件（4）的測量位置上測量所述參考測量值（R），在所述測量位置也測量所述基本測量值（G）。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中借助倫琴射線測量所述基本測量值（G）。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中在所述參考測量值（R）與所述基本測量值（G）的偏差在預定的公差范圍內時給出對于所述厚度（d）的實際值（I），所述實際值由所述參考測量值（R）和所述基本測量值（G）構成。

9.一種用于測定在借助軋機列軋制所述軋件（4）時的所述軋件（4）的、特別是軋制帶材的或金屬板的厚度（d）的設備（2），包括

-用于獲取對于所述厚度（d）的基本測量值（G）的無接觸的射線測量系統（8），其中所述射線測量系統（8）集成在所述軋機列中，

-同樣集成在所述軋機列中的、用于獲取對于所述厚度（d）的參考測量值（R）的超聲波測量頭（8），

-以及根據所述參考測量值（R）用于消除所述基本測量值（G）的誤差影響的分析單元（22）。

10.根據權利要求9所述的設備（2），其中所述射線測量系統（8）的射線源（12）和射線探測器（16）布置在保持機械結構（6）上，其中所述超聲波測量頭（24）同樣布置在所述保持機械結構（4）上。

11.根據權利要求9或10中任一項所述的設備（2），其中用于測量所述軋件（4）的所述厚度（d）的所述超聲波測量頭（24）能向軋件（4）運動。

12.根據權利要求9至11中任一項所述的設備（2），其中所述射線測量系統（8）配置用于，在短暫的幾秒或幾分之一秒的時間間隔內、特別是連續地測量。

13.根據權利要求9至12中任一項所述的設備（2），其中所述超聲波測量頭（24）配置用于，與所述射線測量系統（8）相比在更大時間間隔內測量。

14.根據權利要求9至13中任一項所述的設備（2），其中所述超聲波測量頭（24）配置用于，在所述射線測量系統（8）的測量位置上測量。

15.根據權利要求9至14中任一項所述的設備（2），其中所述射線測量系統（8）是倫琴射線測量系統。

16.根據權利要求9至15中任一項所述的設備（2），其中所述分析單元（22）配置用于，在所述參考測量值（R）與所述基本測量值（G）的偏差在預定的公差范圍內給出對于所述厚度（d）的實際值（I），所述實際值由所述參考測量值（R）和所述基本測量值（G）構成。