[發明專利]自動分析裝置以及自動分析程序有效
| 申請號: | 201280023897.9 | 申請日: | 2012-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN103534596A | 公開(公告)日: | 2014-01-22 |
| 發明(設計)人: | 萬里千裕;光山訓;三村智憲;神原久美子 | 申請(專利權)人: | 株式會社日立高新技術 |
| 主分類號: | G01N35/00 | 分類號: | G01N35/00 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾賢偉;曹鑫 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自動 分析 裝置 以及 程序 | ||
1.一種自動分析裝置,混合試樣和試劑并測定混合液的經時變化,該自動分析裝置的特征在于,具備:
測定點數據取得部,其從上述試樣和上述試劑的反應過程中取得多個測定點數據;
第一存儲部,其積累對上述多個測定點數據進行近似的近似式的參數和檢查值;
數據處理部,其根據在上述第一存儲部中積累的預定個數的上述參數或上述檢查值,生成與上述參數或上述檢查值對應的參考數據的分布圖;
第二存儲部,其存儲多個回歸函數;以及
輸出部,其在顯示畫面上排列多個地提示畫面,上述畫面將與應用上述多個回歸函數而得到的多個回歸函數候選對應的曲線個別地與上述分布圖重疊顯示,以便近似上述參考數據的分布圖。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述輸出部在顯示畫面上排列地顯示以下畫面:
將回歸函數候選與第一參考數據的分布圖重疊顯示的至少一個第一畫面;
將回歸函數候選與不同于上述第一畫面的第二參考數據的分布圖重疊顯示的至少一個第二畫面。
3.一種自動分析裝置,混合試樣和試劑并測定混合液的經時變化,該自動分析裝置的特征在于,具備:
測定點數據取得部,其從上述試樣和上述試劑的反應過程中取得多個測定點數據;
第一存儲部,其積累對上述多個測定點數據進行近似的近似式的參數和檢查值;
數據處理部,其根據在上述第一存儲部中積累的預定個數的上述參數或上述檢查值,生成與上述參數或上述檢查值對應的參考數據的分布圖;
第二存儲部,其存儲排除判定用的閾值;
輸出部,其基于所述閾值,在顯示畫面上提示在所述參考數據的分布圖中包含的排除數據候選;以及
第三存儲部,其將表示是否是從上述參考數據的分布圖中排除的數據的判定結果作為上述參考數據的附屬信息來存儲。
4.根據權利要求3所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述輸出部針對在上述分布圖上進行了指定輸入的參考數據,在顯示畫面上顯示由對應的多個測定點數據構成的反應過程曲線。
5.根據權利要求3所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述第三存儲部在上述判定結果表示排除的情況下,存儲與從分布圖中排除相應參考數據的理由相關的信息。
6.根據權利要求3所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述輸出部在上述參考數據的分布圖上提示上述閾值和上述排除數據候選的關系。
7.根據權利要求3所述的自動分析裝置,其特征在于,具備:
偏離判定部,其判定新取得的測試數據相對于上述參考數據的分布圖是否偏離;以及
第四存儲部,其將表示是否從上述參考數據的分布圖偏離的判定結果作為上述參考數據的附屬信息來存儲,
上述輸出部在上述參考數據的分布圖上提示上述偏離判定部的判定結果。
8.根據權利要求7所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述第四存儲部在上述判定結果表示偏離的情況下,存儲與相應參考數據從分布圖偏離的理由相關的信息。
9.根據權利要求7所述的自動分析裝置,其特征在于,具備:
第二數據處理部,其計算表示在與構成上述分布圖的參考數據對應的上述參數和上述檢查值之間存在的關系的第二回歸函數;以及
第三數據處理部,其根據上述第二回歸函數,計算與任意的測試數據對應的理想的反應過程曲線,
上述輸出部在顯示畫面上重疊地顯示與由上述偏離判定部判定為偏離的測試數據對應的反應過程曲線和上述理想的反應過程曲線。
10.根據權利要求7所述的自動分析裝置,其特征在于,具備:
第四數據處理部,其對構成上述參考數據的分布圖的一組參考數據進行標準化;
第五數據處理部,其對從上述參考數據的分布圖中排除了的數據進行標準化;以及
第六數據處理部,其生成可識別地將由上述第四數據處理部生成的正常數據的分布和由上述第五數據處理部生成的異常數據的分布合并所得的標準化分布圖,
上述輸出部在顯示畫面上顯示上述標準化分布圖。
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