[發明專利]光聲測量裝置和與其一起使用的探頭單元

有效

• 申請號: 201280020727.5
• 申請日: 2012-04-23
• 公開（公告）號: CN103491879A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 入澤覺
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: A61B8/12
• 分類號: A61B8/12
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 李佳;穆德駿

1.一種光聲測量裝置，包括：光投射單元，所述光投射單元將測定光投射到被檢體中；電聲變換器單元，所述電聲變換器單元檢測通過所述測定光的投射而在所述被檢體中生成的光聲波，并且將所述光聲波轉換為電信號；以及信號測量單元，所述信號測量單元基于所述電信號來執行信號測量，所述裝置進一步包括：

擴散板，所述擴散板擴散從光學系統的上游側輸入的所述測定光；

聚光透鏡系統，所述聚光透鏡系統聚集由所述擴散板擴散的所述測定光；以及

光纖纜線，所述光纖纜線包括具有芯體/覆層結構的光纖和在所述聚光透鏡系統側上端部處的耐光能結構，并且被布置成使得由所述聚光透鏡聚集的所述測定光從一端被輸入，

其中，所述光投射單元投射由所述光纖纜線引導的所述測定光。

2.根據權利要求1所述的光聲測量裝置，其中：

所述聚光透鏡系統聚集所述測定光，使得所述測定光的最小光束直徑不小于所述光纖的芯體直徑的1/2；以及

所述光纖纜線被布置成使得在所述測定光的光束直徑不小于所述光纖的所述芯體直徑的1/2的情況下所述測定光被輸入。

3.根據權利要求2所述的光聲測量裝置，其中，當入射在所述擴散板上時的所述測定光的發散角、所述擴散板的擴散角θ、所述聚光透鏡系統的焦距f、以及所述光纖的芯體直徑d滿足以下給出的公式(1)：

d2≤2.4·f·tan((φ2)2+(θ2)2)---(1)]]>

4.根據權利要求1至3中任一項所述的光聲測量裝置，其中，所述聚光透鏡系統具有4至40mm的焦距。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的光聲測量裝置，其中：

所述擴散板是全息擴散器；以及

所述全息擴散器具有0.2至2.0°的擴散角。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的光聲測量裝置，其中：

所述擴散板是光成形擴散器，在所述光成形擴散器中，微型凹透鏡被隨機排列在基板的一個表面上；以及

所述光成形擴散器具有0.2至2.0°的擴散角。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的光聲測量裝置，其中，所述光纖具有100至600μm的芯體直徑。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的光聲測量裝置，其中，所述光纖纜線進一步包括：覆蓋構件，所述覆蓋構件覆蓋所述光纖，使得所述光纖在端面附近的側表面部分被暴露。

9.根據權利要求8所述的光聲測量裝置，其中：

所述光纖具有所述芯體/覆層結構，在所述芯體/覆層結構中，所述覆層在損壞閾值能量密度上與所述芯體相當；以及

所述覆蓋構件覆蓋所述光纖，使得所述光纖在所述端面附近的所述覆層的側表面部分被暴露。

10.根據權利要求8所述的光聲測量裝置，其中：

所述光纖具有端帽結構，在所述端帽結構中，由在損壞閾值能量密度上與所述芯體相當的材料形成的構件被連接至所述端部；以及

所述覆蓋構件覆蓋所述光纖，使得所述光纖在所述構件端面附近的所述構件的側表面部分被暴露。