[發明專利]分類設備

有效

• 申請號: 201280020714.8
• 申請日: 2012-02-02
• 公開（公告）號: CN103501924A
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發明（設計）人: 弗朗切斯科·戴爾安迪切;保羅·達爾奇尼
• 申請（專利權）人: 夸利森斯股份公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 潘煒;劉向輝

1.一種用于將顆粒分類為質量等級的設備，包括：

測量裝置（400），所述測量裝置（400）用于確定所述顆粒的至少一個分析特性；

輸送裝置（300），所述輸送裝置（300）用于將所述顆粒輸送經過所述測量裝置；以及

分類裝置（500），所述分類裝置（500）操作地聯接至所述測量裝置（400），用于基于所述分析特性將所述顆粒分類為至少兩個質量等級，

其特征在于，所述輸送裝置（300）包括構造成沿輸送方向運動的輸送表面，所述輸送表面具有多個穿孔（314），以及所述輸送裝置還包括泵（130），所述泵（130）用于向所述穿孔施加壓差，以使供給至所述輸送裝置的顆粒被抽吸至所述穿孔并且在所述輸送表面上沿所述輸送方向被輸送經過所述測量裝置（400）到達所述分類裝置（500）。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，所述輸送裝置包括限定所述可運動表面的環形輸送帶（310）。

3.根據權利要求2所述的設備，包括箱（320），所述箱向其底部開口，所述箱的底部被所述輸送帶（310）覆蓋，所述箱連接至所述泵（130）以向所述箱（320）施加真空。

4.根據權利要求3所述的設備，其中，所述測量裝置（400）的至少一部分和/或所述分類裝置（500）的至少一部分被設置在所述箱的內部。

5.根據權利要求1所述的設備，其中，所述輸送裝置包括具有圓周表面的可旋轉滾筒（330），所述圓周表面限定所述可運動表面。

6.根據權利要求5所述的設備，其中，所述滾筒連接至所述泵（130）以向所述滾筒（330）施加真空。

7.根據權利要求5或6所述的設備，其中，所述測量裝置（400）的至少一部分和/或所述分類裝置（500）的至少一部分被設置在所述滾筒（330）的內部。

8.根據前述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述穿孔（314）被布置在沿所述輸送方向延伸的多個平行列中。

9.根據前述權利要求中任一項所述的設備，還包括供給裝置（100、200），所述供給裝置（100、200）用于接收大量的所述顆粒，用于使所述顆粒單一化，以及用于將所述單一化的顆粒供給至所述輸送裝置（300）。

10.根據權利要求9所述的設備，其中，所述供給裝置（100、200）包括環形供給帶（210），所述環形供給帶（210）構造成接收所述顆粒并且沿所述輸送方向將所述顆粒輸送至所述輸送表面，以使所述顆粒能夠被抽吸至所述輸送表面的所述穿孔。

11.根據權利要求10所述的設備，其中，所述供給帶（210）具有外表面，所述外表面具有沿所述輸送方向延伸的多個平行凹槽，所述凹槽具有與所述輸送表面的所述穿孔（314）之間的側向距離相對應的側向距離。

12.根據權利要求9至11中任一項所述的設備，還包括再循環管道（120），所述再循環管道（120）用于將未被抽吸至所述輸送表面的顆粒輸送回到所述供給裝置（100、200）。

13.根據前述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述測量裝置（400）包括至少一個光源（411）和至少一個光檢測器（421）。

14.根據權利要求13所述的設備，其中，所述光源（411）和光檢測器（421）布置在所述輸送表面的不同側上，以便發出穿過所述穿孔（314）的光，所述光檢測器（421）布置成接收透射穿過在所述輸送表面上運動經過所述測量裝置（400）的顆粒的光。

15.根據權利要求13所述的設備，其中，所述光源（411）和光檢測器（412）布置在所述輸送表面的相同側上，所述光檢測器（412）布置成接收從在所述輸送表面上運動經過所述測量裝置（400）的顆粒反射的光。

16.根據權利要求13至15中任一項所述的設備，其中，所述測量裝置（400）包括多個光檢測器（412），所述多個光檢測器（412）沿著橫向于所述輸送方向延伸的橫向方向布置，以便能夠同時測量在不同橫向位置中運動經過所述測量裝置（400）的顆粒的分析特性。