[發明專利]反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法及存儲了用于執行該方法的程序的計算機可判讀的存儲介質

有效

• 申請號: 201280018527.6
• 申請日: 2012-05-23
• 公開（公告）號: CN103477293A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 徐晧準
• 申請（專利權）人: BNF技術有限公司
• 主分類號: G05B23/00
• 分類號: G05B23/00;G06F19/00
• 代理公司: 北京青松知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11384
• 代理人: 鄭青松

1.一種反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法，其特征在于，包括：

第1步驟，收集關于成套設備的最下級層級的數據，算出對構成最下級層級的各構成要素的預測值；

第2步驟，把所述預測值與對相應構成要素的實測值進行對比，算出對各個相應構成要素的標記指數；

第3步驟，在所述標記指數中，甄別按由小到大順序的第1～n最小值和按由大到小順序的第1～n最大值；

第4步驟，計算關于各n個的最大值和各n個的最小值的偏差值，算出關于所述偏差值的平均值(X)；

第5步驟，以所述平均值為基礎，算出與所述平均值的大小成反比的補償值(Y)；

第6步驟，算出所述第1～n最小值和第1～n最大值的平均值(X')；

第7步驟，把第5步驟的補償值(Y)與第6步驟的平均值(X')的積，與第3步驟中的第1最小值進行對比，把所述值與所述最小值中較大的值決定為所述最下級層級所屬的次上級構成要素的指數；以及

第8步驟，以在第7步驟中決定的關于次上級層級的各構成要素的指數為基礎，執行第3～7步驟，決定最上級構成要素的指數。

2.根據權利要求1所述的反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法，其特征在于，

第2步驟的標記指數是包括為了對實測值以既定振幅變化的構成要素的實測值暫時超出正常范圍的狀態進行補正而輸入的A值、為了調整預測值與實測值的偏差反映率而輸入的B值，根據以下數學式算出的。

3.根據權利要求1所述的反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法，其特征在于，

第5步驟的補償值(Y)根據以下的數學式計算。

Y=1.2-2(X100),0.1≤Y≤1]]>

4.根據權利要求1所述的反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法，其特征在于，

第2步驟中的標記指數，是乘以根據相應構成要素的重要度賦予的加權值算出的。

5.根據權利要求4所述的反映下級構成要素的狀態的成套設備的健康指數測量方法，其特征在于，

所述加權值是對相應構成要素的出錯可能性進行指數化算出的。

6.一種存儲了用于執行權利要求1至權利要求5中任意一項的方法的程序的計算機可判讀的存儲介質。