[發(fā)明專利]鋼材的鋼種判定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201280015540.6
• 申請日: 2012-01-19
• 公開（公告）號: CN103460030A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 藤原健二;久保田央
• 申請（專利權(quán)）人: 新日鐵住金株式會社
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;李茂家

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及管、棒等截面大致為圓形的鋼材的鋼種判定方法。尤其涉及能夠容易且精度良好地進行鋼種判定的、截面大致為圓形的鋼材的鋼種判定方法。

背景技術(shù)

一直以來，在截面大致為圓形的鋼材的出貨前的階段等中，為了判定是否存在不同材料(鋼種不同的鋼材)，有時進行使用X射線熒光分析法的鋼種判定。在該X射線熒光分析法中，對鋼材的任意的一定位置以規(guī)定時間照射X射線來進行分析。

此外，關(guān)于鋼材的鋼種判定，有在鋼材的外周面進行X射線熒光分析的方法，但外周面具有表層氧化皮的鋼材中具有不均勻分布于該表層氧化皮的元素，因此存在由于分析位置的不同而導(dǎo)致分析值的偏差變大的問題。特別是Cr、Cu、Ni不均勻分布于表層氧化皮，因此，對于包含0.3質(zhì)量%以上的Cr、Cu、Ni中的任意元素的鋼管而言，由于分析位置的不同而導(dǎo)致分析值的偏差變大。

為了判定要判定鋼種的鋼材是否為任意的鋼種(以下稱為任意鋼種)，而判定要判定鋼種的鋼材的分析值是否處于考慮任意鋼種的制造標準的組成范圍和測定的偏差從而確定的基準范圍內(nèi)時，若由于分析位置的不同而導(dǎo)致分析值的偏差大，則即使對預(yù)先已知為任意鋼種的鋼材進行分析，也會由于分析位置而導(dǎo)致分析值偏離任意鋼種的基準范圍，因此存在無法精度良好地進行鋼種判定的擔心。

圖1是示出在鋼管的外周面的管圓周方向的4處(從管軸觀察將下方向設(shè)為0°時的0°、90°、180°、270°的4個方向的位置)進行X射線熒光分析時的Cr的分析值的一個例子的圖。該鋼材的鑄造前的鋼水的分析值為1.04質(zhì)量%，然而，4處的分析值為1.03質(zhì)量%、1.18質(zhì)量%、1.27質(zhì)量%、1.11質(zhì)量%，產(chǎn)生了大的偏差。

另一方面，確認到：在去除了該鋼管的表面氧化皮的情況下，管圓周方向的Cr的分析值的偏差小。因此，可以認為去除表面氧化皮前的管圓周方向4處的Cr的分析值的偏差是由表面氧化皮帶來的。

因此，為了判定截面大致為圓形的鋼材的鋼種，可以考慮在管圓周方向的多個位置進行X射線熒光分析，使用各個位置的分析值的平均值，但存在在多個位置進行X射線熒光分析因而費時費力的問題。

另外，為了消除由該表層氧化皮帶來的分析值的偏差，可以考慮通過研磨機等去除表層氧化皮后再進行X射線熒光分析的方法，但存在使用研磨機進行去除費時費力的問題。

另外，截面大致為圓形的鋼材在熱處理后進行用于統(tǒng)一長度、斜角加工等的端面切削，因此也可以考慮在不存在表層氧化皮的影響的鋼材的端面進行X射線熒光分析的方法。

然而，希望在端面進行X射線熒光分析時，由于鋼材的直徑、鋼材為管時的管的壁厚，導(dǎo)致能夠照射X射線熒光的面積變窄，變得難以進行分析。

另外，對于鋼材沿長度方向被輸送的場所，在鋼材的輸送路徑上設(shè)置X射線熒光分析裝置時，存在鋼材與X射線熒光分析裝置碰撞的擔心，因此難以設(shè)置X射線熒光分析裝置。

特別是在生產(chǎn)線中希望對鋼材的端面自動地進行X射線熒光分析時，難以對鋼材的端面照射X射線熒光。

另外，作為判定鋼材的鋼種的方法，例如已知有專利文獻1中記載的判定方法，但該判定方法無法解決在截面大致為圓形的鋼材的X射線熒光分析中無法容易且精度良好地進行鋼種判定的問題。

現(xiàn)有技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平10-153594號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的問題

本發(fā)明是為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的問題而做出的，課題在于提供能夠容易且精度良好地進行鋼種判定的、截面大致為圓形的鋼材的鋼種判定方法。

用于解決問題的方案

對X射線熒光分析的原理進行簡單說明。X射線熒光分析中，對要分析的物質(zhì)照射X射線，根據(jù)由被照射了X射線的物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光算出物質(zhì)的組成。此處，針對X射線熒光分析裝置內(nèi)使用能量分散型裝置的情況進行說明。

圖2是示出對鋼材進行X射線熒光分析時得到的X射線熒光的能譜的一個例子的圖。橫軸為X射線熒光的能量，縱軸為各能量下的X射線熒光的計數(shù)點數(shù)。各元素被照射X射線時，分別放射出具有固有能量的X射線熒光。