[發明專利]具有減少的驗證的改進的編程的非易失性存儲器和方法有效
| 申請號: | 201280014811.6 | 申請日: | 2012-03-02 |
| 公開(公告)號: | CN103477392A | 公開(公告)日: | 2013-12-25 |
| 發明(設計)人: | 董穎達;大和田健;C.許 | 申請(專利權)人: | 桑迪士克科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C11/56 | 分類號: | G11C11/56;G11C16/34;G11C16/10 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 黃小臨 |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 減少 驗證 改進 編程 非易失性存儲器 方法 | ||
1.一種并行編程非易失性存儲器的一組存儲器單元的方法,包括:
為存儲器單元提供被一組增加的分界閾值(V1,V2…VN)劃分為多個閾值子范圍的閾值窗口,使得每個子范圍代表不同的存儲器狀態;
在一個編程遍中施加編程電壓作為一系列的遞增電壓脈沖,以將該組存儲器單元從擦除的存儲器狀態并行編程到各自的目標存儲器狀態;
提供具有從該組中的指定分界閾值Vi偏移了預定余量的值的測試參考閾值,使得當存儲器單元被預期為已被編程超過Vi、但是還沒有相對于測試參考閾值被驗證時,存儲器單元將具有擁有預定余量以內的超過Vi的過沖的閾值,并且當存儲器單元被預期為已編程超過Vi、并且也已經相對于測試參考閾值被驗證時,則存儲器單元將具有擁有大于預定余量的超過Vi的過沖的閾值;
在電壓脈沖之間相對于測試參考閾值來驗證正被編程的該組存儲器單元,直到確定正被編程的每個存儲器單元的過沖;以及
在該編程遍的后續部分中,減緩曾被確定為具有大于余量的過沖的正被編程的任何存儲器單元的編程速率。
2.如權利要求1所述的方法,其中i=1。
3.如權利要求1所述的方法,其中i=2。
4.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
標識在Vj處驗證正被編程的該組的每個存儲器單元的編程脈沖;以及
在該編程遍的后續部分中,從所標識的編程脈沖施加預定數目的另外的編程脈沖到正被編程的該組的各個存儲器單元,以將各個存儲器單元編程到各個目標狀態,預定數目的另外的編程脈沖是所標識的編程脈沖和各個目標狀態的函數。
5.如權利要求4所述的方法,其中j=1,并且i≥j。
6.如權利要求1所述的方法,進一步包括:
提供并行訪問該組存儲器單元的字線;
提供訪問該組的各個存儲器單元的各個位線;以及其中:
所述編程通過施加編程電壓到字線來實現;以及
所述減慢所述任何存儲器單元的編程速率包括在所述編程中升高所述任何存儲器單元的相應位線上的預定電壓。
7.如權利要求1所述的方法,其中:
所述預定余量是包含測試參考閾值的閾值子范圍的寬度的一半。
8.如權利要求1所述的方法,其中:
在該編程遍的后續部分中,一旦編程電壓已遞增到被估計為將存儲器單元編程到目標狀態的值時,正被編程的存儲器單元被禁止進一步的編程。
9.如權利要求1所述的方法,其中:
執行該編程遍的后續部分而不在編程脈沖之間驗證。
10.如權利要求1所述的方法,其中:
執行該編程遍的后續部分而不在每個編程脈沖之間驗證。
11.一種非易失性存儲器,包括:
存儲器單元,具有被一組增加的驗證閾值(V1,V2,…VN)劃分為多個閾值子范圍的閾值窗口,使得每個子范圍代表不同的存儲器狀態;
測試參考閾值,具有從該組中的指定分界閾值Vi偏移了預定余量的值,使得當存儲器單元被預期為已被編程超過Vi、但是還沒有相對于測試參考閾值被驗證時,存儲器單元將具有擁有預定余量以內的超過Vi的過沖的閾值,并且當存儲器單元被預期為已編程超過Vi、并且也已經相對于測試參考閾值被驗證時,則存儲器單元將具有擁有大于預定余量的超過Vi的過沖的閾值;
讀/寫電路,用于并行編程和驗證一組存儲器單元;
所述讀/寫電路具有以下操作,包括:
在一個編程遍中,施加編程電壓作為一系列遞增電壓脈沖,來將該組的存儲器單元從擦除的存儲器狀態并行編程到各個目標存儲器狀態;
在電壓脈沖之間相對于測試參考閾值來驗證正被編程的該組的存儲器單元直到確定正被編程的每個存儲器單元的過沖;以及
在該編程遍的后續部分中,減緩曾被確定具有大于余量的過沖的正被編程的任何存儲器單元的編程速率。
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