[發(fā)明專(zhuān)利]用于疊片鐵芯的故障檢測(cè)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280014501.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-02-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103430017A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | V.利奧諾夫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西門(mén)子能量股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N27/82 | 分類(lèi)號(hào): | G01N27/82;G01R31/34;G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 謝強(qiáng) |
| 地址: | 美國(guó)佛*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 疊片鐵芯 故障 檢測(cè) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及用于疊片鐵芯的故障檢測(cè),并且更確切地說(shuō),涉及檢測(cè)和定位由用于電機(jī)的疊片鐵芯中的疊片之間的缺陷造成的故障。
背景技術(shù)
如可以在電機(jī)中使用的疊片定子鐵芯可以由多個(gè)疊片形成,這些疊片包括位于相鄰疊片之間的絕緣材料層,以阻止疊片之間的導(dǎo)電。可以針對(duì)在制造期間和維護(hù)操作期間的疊片間短路而檢查疊片鐵芯,以識(shí)別可以對(duì)疊片鐵芯造成損害的狀態(tài)。檢查操作可以用包括對(duì)具有預(yù)定電感的定子疊片進(jìn)行環(huán)狀勵(lì)磁的測(cè)量方法來(lái)執(zhí)行。通過(guò)局部溫差指示歸因于疊片間短路的電路效果的方法需要高功率和高電壓電源以及帶有大橫截面的勵(lì)磁繞組。
在另一檢查技術(shù)中,疊片鐵芯可以設(shè)有特殊繞組,以在整個(gè)鐵芯中激發(fā)磁通,并且在鐵芯中感生出低磁通密度。該已知為電磁核心缺陷檢測(cè)器(EL?CID)測(cè)試的檢查技術(shù)提供在測(cè)試中與在電機(jī)操作中的磁通密度不同的磁通密度,并且不能將足夠的磁通供給至疊片鐵芯來(lái)提供對(duì)齒區(qū)域中的絕緣損害的檢測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種評(píng)估電機(jī)的疊片鐵芯的狀態(tài)的方法。該方法包括將第一磁軛定位為在疊片鐵芯的第一對(duì)齒之間延伸。第一磁軛包括與第一對(duì)齒嚙合的一對(duì)臂,并且第一磁軛繞制有第一繞組。第二磁軛定位為在疊片鐵芯的第二對(duì)齒之間延伸,第二對(duì)齒與第一對(duì)齒不同。第二磁軛包括與第二對(duì)齒嚙合的一對(duì)臂,并且第二磁軛繞制有第二繞組。為由第一和第二繞組之一限定的電路供電,以在對(duì)應(yīng)于第一和第二繞組之一并且限定勵(lì)磁磁軛的磁軛中產(chǎn)生磁通。測(cè)量由第一和第二繞組中的另一個(gè)所限定的電路的特性,以識(shí)別疊片鐵芯中對(duì)應(yīng)于單個(gè)疊片之間的渦流的故障。
根據(jù)繞組的另一方面,可以將兩個(gè)中間齒定位在第一對(duì)齒之間,并且這兩個(gè)中間齒可以限定第二對(duì)齒。此外,可以在第一對(duì)齒之間限定至少三個(gè)縫隙。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,可以將至少一個(gè)暫時(shí)磁通分路安置在第一對(duì)齒的齒與鄰近的中間齒之間的縫隙中。此外,可以將暫時(shí)磁通分路沿著第一對(duì)齒的齒與該鄰近的中間齒移動(dòng)到至少一個(gè)不同的高度,以識(shí)別疊片鐵芯中故障的位置。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,勵(lì)磁磁軛可以包括磁通感測(cè)繞組,并且為勵(lì)磁繞組供電包括:測(cè)量磁通感測(cè)繞組中的、與勵(lì)磁磁軛中的磁通對(duì)應(yīng)的電壓,以及在參考磁通感測(cè)繞組中電壓的情況下調(diào)節(jié)施加給第一和第二繞組之一的電壓,以維持勵(lì)磁磁軛中的恒定磁通。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,第一磁軛可以包括勵(lì)磁磁軛,并且第二磁軛可以定位在由勵(lì)磁磁軛生成的磁通的區(qū)域內(nèi)。此外,第一和第二磁軛之一可以定位在第一和第二磁軛中的另一個(gè)內(nèi)。此外,第二磁軛可以定位在與第一磁軛共同的徑向平面中,該徑向平面從齒向外徑向地延伸。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,為勵(lì)磁繞組供電可以包括以恒定電壓為勵(lì)磁繞組供電。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種用于評(píng)估電機(jī)的疊片鐵芯的狀態(tài)的系統(tǒng),該疊片鐵芯包括多個(gè)徑向延伸的齒。該系統(tǒng)包括:具有從橫向部分延伸的第一對(duì)臂的第一磁軛,該第一對(duì)臂以基本上與疊片鐵芯的第一對(duì)齒之間的間隔相同的距離彼此間隔,并且該第一磁軛繞制有第一繞組。第二磁軛具有從橫向部分延伸的第二對(duì)臂,該第二對(duì)臂以基本上與第二對(duì)齒之間的間隔相同的距離彼此間隔,該第二對(duì)齒與第一對(duì)齒不同,并且第二磁軛繞制有第二繞組。該系統(tǒng)還包括電源,其為由第一和第二繞組之一限定的電路供電,以在對(duì)應(yīng)于第一和第二繞組之一并且限定勵(lì)磁磁軛的磁軛中產(chǎn)生磁通。監(jiān)視模塊提供對(duì)于由第一和第二繞組中的另一個(gè)所限定的電路的特性的測(cè)量,以識(shí)別疊片鐵芯中對(duì)應(yīng)于單個(gè)疊片之間的渦流的故障。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,該系統(tǒng)還包括暫時(shí)磁通分路,其由磁性材料形成并且定尺寸為跨騎限定在第一對(duì)齒的齒與第二對(duì)齒的鄰近齒之間的至少一個(gè)縫隙。此外,暫時(shí)磁通分路可以沿著至少一個(gè)縫隙移動(dòng)到至少一個(gè)其它高度位置,以識(shí)別疊片鐵芯中的故障位置。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,可以提供磁通感測(cè)繞組,其定位在勵(lì)磁磁軛上并且提供與勵(lì)磁磁軛中的磁通成比例的電壓輸出。磁通感測(cè)繞組可以連接至電壓調(diào)節(jié)器并且電壓調(diào)節(jié)器可以連接至電源,以在參考磁通感測(cè)繞組中的電壓的情況下控制施加給第一和第二繞組之一的電壓,以便維持勵(lì)磁磁軛中預(yù)定的磁通。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,第一磁軛可以包括勵(lì)磁磁軛并且第二磁軛可以定位在由疊片鐵芯中的勵(lì)磁磁軛生成的磁通的區(qū)域中。此外,第一和第二磁軛之一可以定位在第一和第二磁軛中的另一個(gè)內(nèi)。另外,第二磁軛可以定位在與第一磁軛共同的徑向平面中,該徑向平面從齒向外徑向地延伸。
附圖說(shuō)明
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于西門(mén)子能量股份有限公司,未經(jīng)西門(mén)子能量股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201280014501.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:應(yīng)用于物探,特別用于檢測(cè)油氣層的采用原子干涉技術(shù)的絕對(duì)重力測(cè)定裝置的激光系統(tǒng)的控制方法
- 下一篇:發(fā)電站中的齒輪箱的磨損監(jiān)控
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法以及故障檢測(cè)程序
- 故障預(yù)測(cè)裝置、故障預(yù)測(cè)方法及故障預(yù)測(cè)程序
- 故障分析裝置、故障分析系統(tǒng)及故障分析方法
- 故障檢測(cè)方法、故障檢測(cè)裝置和故障檢測(cè)系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法及計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)方法和計(jì)算機(jī)能讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障檢測(cè)裝置、故障檢測(cè)系統(tǒng)、故障檢測(cè)方法
- 故障處理方法、裝置、電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 故障排除方法、故障排除裝置及故障排除系統(tǒng)
- 故障檢測(cè)電路、故障檢測(cè)系統(tǒng)及故障檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





