[發明專利]放射線檢測裝置

無效

• 申請號: 201280013015.0
• 申請日: 2012-10-19
• 公開（公告）號: CN103430049A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 新谷庸一;村井隆一;村田充弘;前田智之
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G01T1/185
• 分類號: G01T1/185;G01T1/18
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王成坤;胡建新

技術領域

本申請涉及一種放射線檢測裝置，特別涉及通過收集放射線所電離的氣體的電子和離子，從而檢測放射線量的放射線檢測裝置。

背景技術

通過收集由放射線所電離的氣體的電子和離子，從而檢測放射線量的放射線檢測裝置，其在封入了氣體的容器內具有陰極和陽極2個電極，通過向該2個電極之間施加電壓，并將放射線所電離的氣體的電子和離子收集到電極，從而進行放射線量的檢測。

作為這樣的放射線檢測裝置，將具有如下電壓·電極結構的稱為電離室法，其向陰極-陽極之間施加的電壓為不使放射線產生的氣體電離信號放大的范圍，將具有如下電壓·電極結構的稱為比例系數法，其向陽極周邊施加高電場引起電子雪崩使得信號放大。

作為以往的放射線檢測裝置，有通過如下方式構成的放射線檢測裝置：在作為陰極的密閉的圓筒狀容器中心，配置細線狀的陽極，同時在容器內封入電離氣體，例如添加了有機氣體的氬氣（Ar）。該放射線檢測裝置，在容器內，放射線將電離氣體電離，生成的電子和離子通過在陰極-陽極之間施加的電場進行移動。此時，尤其電子會在陽極附近發生電子雪崩，放射線被計數為較大的脈沖信號。

另外，有這樣的放射線檢測裝置：根據測定的放射線如X射線、γ射線的能量，轉換用于放射線檢測裝置的電離氣體的種類，進行放射線量的檢測。例如，檢測出低能量的X射線時，使用吸收系數較大、且原子序號較大的元素的氣體。另一方面，有這樣的放射線檢測裝置：在檢測出中子束時，由于中子束不會電離氣體，因此對電離氣體使用與中子束發生核反應并產生帶電粒子的氦（He₃）和三氟化硼（BF₃）等氣體。另外，有如下構成的放射線檢測裝置：在用作陰極的容器內，涂敷了硼10（B₁₀）和鈾235（U₂₃₅）等，由此變換成帶電粒子并起到同樣的電離作用，從而檢測中子束（參照專利文獻1、專利文獻2、專利文獻3）。

現有技術文獻

專利文獻1：日本特開平07-169438號公報

專利文獻2：日本特開2002-181948號公報

專利文獻3：日本特開2002-14171號公報

發明內容

發明所要解決的問題

但是，從高效地檢測低劑量放射線的觀點看來，上述以往的放射線檢測裝置都不夠完善。

本發明的目的在于，提供一種解決這樣的現狀的課題，能夠以簡單的結構進行低劑量放射線的測定的放射線檢測裝置。

用于解決問題的手段

為了解決這樣的課題，本發明中公開的放射線檢測裝置，其特征在于，在封入了用于放射線檢測的氣體的密閉空間內，形成一對電極，以及覆蓋所述一對電極的電介質材料構成的絕緣體層，并構成放射線傳感器，所述放射線傳感器在放射線檢測期間，向所述一對電極之間施加預定電壓，通過由入射的放射線電離所述氣體而生成的離子和/或者電子，將電荷積蓄在所述絕緣體層上，并且在放射線測定時，測定由于施加與所述放射線檢測期間向所述一對電極施加的電壓反向偏置的電壓從而發生放電的開始電壓。

發明效果

根據本發明中公開的放射線檢測裝置，在放射線檢測期間內，利用對應放射線量而積蓄在第1傳感器基板的絕緣體層和第2傳感器基板的絕緣體層上的電荷量，測定放電開始的電壓降低量，由此能夠測定在放射線檢測期間檢測的放射線量。因此，能夠實現結構簡單，并且也能夠對低劑量放射線進行測定的放射線檢測裝置。

附圖說明

圖1是表示涉及本實施方式的放射線檢測裝置的放射線傳感器的截面圖。

圖2是用于說明涉及本實施方式的放射線檢測裝置的動作原理的圖。

圖3表示在涉及本實施方式的放射線檢測裝置中，在放射線檢測期間以及測定期間內的施加電壓的關系的電壓波形圖。

圖4是用于說明在本實施方式的放射線檢測裝置中，放射線的測定周期的電壓波形圖。

圖5是用于說明在本實施方式的放射線檢測裝置中，放射線的測定周期的圖。

圖6是用于說明在本實施方式的放射線檢測裝置中，放射線的測定周期的圖。

圖7是表示涉及本實施方式的放射線檢測裝置的放射線傳感器的其它結構例的分解立體圖。

具體實施方式

下面，利用附圖對本發明中公開的放射線檢測裝置的一個實施方式進行說明。

圖1是表示涉及本實施方式的放射線檢測裝置的放射線傳感器部分的示意結構的截面圖。