[發明專利]光學膜片的切割裝置及光學膜片的切割方法

有效

• 申請號: 201280011175.1
• 申請日: 2012-11-09
• 公開（公告）號: CN103403586A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 藤井干士
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: G02B5/30
• 分類號: G02B5/30;B26D3/00;B26D5/00
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所 31210
• 代理人: 肖華

技術領域

本發明涉及一種光學膜片的切割裝置及光學膜片的切割方法。

本發明基于2011年11月11日在日本提交的專利申請特愿2011-248060主張優先權，在此引用該申請的內容。

背景技術

偏振膜、相位差膜等的光學膜是構成液晶顯示裝置的重要的光學部件。例如，液晶顯示裝置中，偏光膜作為矩形的光學膜片在液晶面板的上下表面各貼合有一片。光學膜片是將長條狀的光學膜作為原材料，通過用刀具將其切斷成矩形得到的（例如，參照專利文獻1）。

圖13是表示現有的光學膜片的切割方法的示意圖。

首先，如圖13的（a）所示，光學膜101通過輸送裝置100送出。

接下來，如圖13的（b）所示，由輸送裝置100送出的光學膜101，通過未圖示的切斷裝置斜角切割。由此光學膜中間體（第一中間膜）102被切割出。在該斜角切割的工序中，為使光學膜片中作為目標的光軸方向變成適合目標的液晶顯示裝置的方向，以所規定的角度從光學膜101切割出第一中間膜102。

接下來，如圖13的（c）所示，通過膜層壓裝置110在第一中間體102上層壓片狀構件。膜層壓裝置110具有一對輥軸111、112和將片狀構件送出的卷軸113。從卷軸113送出的片狀構件、以規定的角度被切割出的第一中間膜102，通過一對的輥軸111、112之間而被層壓，被送出到下一個工序。

接下來，如圖13的（d）所示，從卷軸113送出的片狀構件、和以規定的角度被切割出的第一中間膜102被層壓而成的層壓膜，通過未圖示的切斷裝置被切成兩半。由此，第二中間膜103切割出。

接下來，由圖13的（e）所示，通過目視檢查切割出的第二中間膜103的品質。

接下來，如圖13的（f）所示，將第二中間膜103放于臺120上。在臺120上做了用于對第二中間膜103進行定位的標記121。將第二中間膜103置于臺120上時，以在圖13的（d）表示的工序中被斜角切割的邊為基準，將第二中間膜103定位于標記121。

然后，通過未圖示的切斷裝置從第二中間膜103切割出多個光學膜片104。切斷裝置中，以對應于光學膜片104的長邊長度的間隔排列的多個刀具，以及以對應于光學膜片104的短邊長度的間隔排列的多個刀具在俯視時被配置為格子狀，通過4個刀具切割出的矩形區域成為1個光學膜片104的切割區域。

利用切斷裝置切斷的第二中間膜103的切斷方向（例如，以對應于光學膜切片104的長邊長度的間隔排列的刀具的配置方向），被配置為相對于光學膜101的長度方向成為目標角度（根據設計規格規定的角度）。例如，光學膜片104的光軸被設計成相對于光學膜片104的長邊成7°的情況下，則將切斷裝置的切斷方向設定為相對于光學膜101的長度方向成7°。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2003-255132號公報

發明內容

發明所要解決的課題

圖13的（f）的工序中，以光學膜101的長度方向為基準來設定第二中間膜103的切斷方向，是因為，一般來說，長條狀的光學膜101是使由二色性色素染色了的樹脂膜單軸拉伸制成的，光學膜101的光軸方向同樹脂膜的延伸方向大致相同。但是，光學膜101的光軸在光學膜101整體中并不均一，在光學膜101的寬度方向上有稍許參差不齊。例如，在將由二色性色素染色了的樹脂膜單軸拉伸而制造光學膜101的情況下，由于樹脂膜厚度不均勻或二色性色素的染色不均等，光學膜101的中央部分的光軸方向與靠近光學膜101端部的部分（邊緣部分）的光軸方向之間有產生偏差的傾向。因此，從光學膜101切割出多個光學膜片104的情況下，反映了此光軸的參差不齊，光學膜片104間也發生光軸的參差不齊。

又，現有的光學膜片的切割方法中，存在著影響光學膜片104中作為目標的光軸的精度的工序。例如，在圖13的（b）中表示的斜角切割的工序中，切斷裝置的切割精度影響了作為定位基準的斜角切割邊的精度。又，在圖13的（f）表示的片切割工程中，第二中間膜103的定位精度、設置精度、切斷裝置的切斷精度影響了光學膜片中作為目標的光軸的精度。

如上所述，現有的光學膜片的切割方法中，存在被切割出的多個光學膜片間光軸方向出現參差不齊的問題。最近，顯示裝置的高對比化正在發展中，這就要求比從前更加嚴格的光軸精度。例如現有的移動電話中，光軸的公差是±1°，但智能手機或平板型的信息終端中，要求±0.25°的光軸公差，可預想今后要求的精度會更加嚴格。