[發明專利]質量分析裝置及其使用的離子源

有效

• 申請號: 201280007364.1
• 申請日: 2012-01-27
• 公開（公告）號: CN103339708A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發明（設計）人: 佐竹宏之;長谷川英樹;杉山益之;橋本雄一郎
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: H01J49/10
• 分類號: H01J49/10;G01N27/62;H01J49/04
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;郭鳳麟

1.一種質量分析裝置，具有：離子源、具備設置有導入離子化的試樣的導入口的相對電極的質量分析部、控制所述離子源的控制部，所述質量分析裝置的特征在于，

所述離子源具有：

保持試樣的試樣保持部；

具有多個針電極的試樣輸送電極；

在所述試樣輸送電極和所述相對電極之間施加電壓的電源；以及

驅動所述試樣輸送電極，使所述多個針電極依次通過所述試樣保持部和所述導入口的驅動部。

2.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的圓盤電極，具有在所述圓盤電極的周邊部以尖端朝向相對于該圓盤電極的面垂直的方向設置了所述多個針電極的構造，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流大致平行的方向。

3.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的圓盤電極，具有在所述圓盤電極的面內方向放射狀地設置了所述多個針電極的構造，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流的方向大致垂直的方向。

4.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的平板電極，所述平板電極在外周部分具有前端尖的多個凸部，所述凸部構成所述針電極，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流的方向大致垂直的方向。

5.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的圓盤電極，所述圓盤電極具有外周部分沿著圓周方向變薄成刃狀的形狀，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流的方向大致垂直的方向。

6.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備棒狀的電極，具有在所述棒狀的電極上設置了所述多個針電極的構造，所述驅動部使所述試樣輸送電極往復運動。

7.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述驅動部間歇地驅動所述試樣輸送電極使所述多個針電極的各個在所述導入口的前方停止預定時間。

8.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

具有清洗所述針電極的清洗部，所述針電極在通過所述導入口后，在通過所述清洗部被清洗后移動到所述試樣保持部。

9.根據權利要求1所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述控制部監視通過所述質量分析部檢測出的離子強度，基于監視結果來控制所述驅動部。

10.根據權利要求9所述的質量分析裝置，其特征在于，

所述控制部根據所述監視結果控制通過所述驅動部對所述試樣輸送電極進行旋轉驅動時的旋轉速度。

11.一種質量分析裝置用的離子源，其特征在于，

具有：

保持試樣的試樣保持部；

具有多個針電極的試樣輸送電極；

在所述試樣輸送電極和質量分析部的相對電極之間施加電壓的電源；以及

驅動所述試樣輸送電極的驅動部，

所述驅動部，驅動所述試樣輸送電極使所述多個針電極依次通過所述試樣保持部和在所述相對電極間設置的導入口。

12.根據權利要求11所述的離子源，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的圓盤電極，具有在所述圓盤電極的周邊部以尖端朝向相對于該圓盤電極的面垂直的方向設置了所述多個針電極的構造，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流大致平行的方向。

13.根據權利要求11所述的離子源，其特征在于，

所述試樣輸送電極具備繞旋轉軸旋轉的圓盤電極，具有在所述圓盤電極上放射狀地設置了所述多個針電極的構造，所述旋轉軸的軸方向朝向與從所述針電極的尖端被導入所述導入口的離子流的方向大致垂直的方向。