[發明專利]調制信號檢測裝置及調制信號檢測方法

無效

• 申請號: 201280002214.1
• 申請日: 2012-06-11
• 公開（公告）號: CN103038826A
• 公開（公告）日: 2013-04-10
• 發明（設計）人: 伊藤清貴;日野泰守
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/135
• 分類號: G11B7/135;G01B9/02;G01B11/24;G11B7/005
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

1.一種調制信號檢測裝置，用于檢測調制信號，其特征在于包括：

波長可變激光器，射出激光、能夠變更振蕩波長；

光分歧器，將從所述波長可變激光器射出的所述激光分割為信號光和參照光；

參照光鏡，配置在所述參照光的光路上；

干涉部，使被調制的所述信號光和被所述參照光鏡反射的所述參照光相互干涉；

干涉光檢測部，檢測由所述干涉部產生的干涉光并輸出干涉光檢測信號；

波長控制信號生成部，基于所述干涉光檢測信號，生成用于控制所述波長可變激光器的振蕩波長的振蕩波長控制信號，其中，

當設所述信號光通過的光路的長度以真空中的折射率換算出的初期光程為ld₀，所述參照光通過的光路的長度以真空中的折射率換算出的初期光程為lm₀，以真空中的折射率換算出的所述信號光和所述參照光的光程差的變動幅度為Δl，所述波長可變激光器的中心振蕩波長為λ₀，所述波長可變激光器的振蕩波長可變范圍為Δλ時，

初期光程差|ld₀-lm₀|滿足下式(1)，

|ld0-lm0|>ΔlΔλλo······(1).]]>

2.根據權利要求1所述的調制信號檢測裝置，其特征在于：所述波長控制信號生成部，從所述干涉光檢測信號檢測調制信號帶域以外的帶域的變動成分，并基于檢測出的所述變動成分，生成所述振蕩波長控制信號。

3.根據權利要求1或2所述的調制信號檢測裝置，其特征在于還包括：

物鏡，使所述信號光聚光；

伺服誤差信號生成部，根據所述干涉光檢測信號，生成對應于所述物鏡的聚焦位置的伺服誤差信號，其中，

所述波長控制信號生成部，基于所述伺服誤差信號生成所述振蕩波長控制信號。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的調制信號檢測裝置，其特征在于：

所述信號光，通過被配置在所述信號光的光路上的記錄有數據的光盤介質而被調制，

所述調制信號檢測裝置還包括，通過根據所述干涉光檢測信號生成再生信號，再生記錄于所述光盤介質中的所述數據的再生信號處理部。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的調制信號檢測裝置，其特征在于：

所述信號光，通過被配置在所述信號光的光路上的具有指定的表面形狀的物體而被調制，

所述調制信號檢測裝置還包括，通過根據所述干涉光檢測信號生成再生信號，測量所述物體的表面形狀的再生信號處理部。

6.根據權利要求1或2所述的調制信號檢測裝置，其特征在于還包括：

光調制元件，被配置在所述信號光的光路上，其光學特性隨應該傳輸的數據而變化；其中，

所述干涉部，使通過所述光調制元件而被調制的所述信號光和被所述參照光鏡反射的所述參照光相互干涉，

所述調制信號檢測裝置還包括，通過根據所述干涉光檢測信號生成再生信號，利用光傳輸所述數據的再生信號處理部。

7.根據權利要求6所述的調制信號檢測裝置，其特征在于：所述光學特性為折射率。

8.根據權利要求6所述的調制信號檢測裝置，其特征在于：所述光學特性為透過率。