[實用新型]波長可調光源的波長自動校準系統

有效

• 申請號: 201220749878.1
• 申請日: 2012-12-31
• 公開（公告）號: CN203037357U
• 公開（公告）日: 2013-07-03
• 發明（設計）人: 沈奶連;涂建坤;王建財
• 申請（專利權）人: 上海電纜研究所
• 主分類號: G01J9/00
• 分類號: G01J9/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所 31219
• 代理人: 余明偉

技術領域

本實用新型涉及波長自動校正技術，特別涉及一種波長可調光源的波長自動校正系統。

背景技術

現有的波長可調光源，如帶鹵鎢燈光源的單色儀，在測試系統中它起到輸出可調波長的窄譜光源（如譜寬為1nm），同時可調波長的光源將作為測試系統的注入光源，其波長的準確性將影響測試參數的準確性。可見，光源波長的準確性對于測試結果的準確性至關重要。

而現有的波長可調光源波長的校準主要有如下幾種校準技術：

1、光譜儀進行校準

將光源輸入光耦合到光譜儀中，來確定光源的初始波長，從而達到校準波長的作用。

圖1即顯示了現有技術中利用光譜儀校準波長可調光源波長的示意圖。如圖1所示，波長可調光源11產生光源，光源輸入通過耦合透鏡12、光纖13以及光纖適配器14而光耦合至光譜儀15中。在此校準技術中須先對波長可調光源進行預先校準，才能對檢測設備進行安裝調試。該校正技術屬于調試過程檢驗，在實際應用中，將光譜儀作為配件與檢測設備一起銷售不具現實操作性。

2、利用被測樣品對某個波長的光具有特殊的效應以達到波長可調光源的波長標定。

例如，作為被測樣品的光纖中OH-的吸收峰為1383nm。圖2即顯示了在現有技術中利用光纖中OH-的吸收峰為1383nm為特性的校準示意圖。如圖2所示，在測試中采用具有水峰（如圖2中具有陡峭的曲線，其中曲線的頂點即為水峰1383nm）的光纖進行寬譜的掃描，將一個不連續的高損耗的吸收峰與1383nm進行系統光譜的波長標定，從而達到波長可調光源的波長標定。但是，然而由于光纖制棒技術的不斷提高，能夠很好的控制光纖棒中的OH-的含量，使得大大降低了光纖水峰的高度（如圖2中為加粗、且平緩的曲線），對測試系統的波長校準起到一定的難度。基于此類由于被測樣品的性能提高了或改變了，將會影響到系統波長的校準難度。

由上可知，現有的校準技術存在的問題如下：1）、校準方法比較麻煩；2）、校準過程受到樣品質量的影響；3）、需要采用輔助設備，無法對測試設備進行自動校準。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種波長可調光源的波長自動校準系統，用于解決現有技術中自動校準操作繁瑣且復雜度高、受到樣品質量的影響、或采用額外輔助設備等問題。

為解決上述問題及其他問題，本實用新型在一方面提供一種波長可調光源的波長自動校準系統，包括：波長可調光源裝置、注入聚焦裝置、用于承載所述注入聚焦裝置的注入聚焦固定架、探測聚焦裝置、用于承載所述探測聚焦裝置的探測聚焦固定架、連接所述注入聚焦裝置和所述探測聚焦裝置的光纖、信號采集裝置、以及位于所述探測聚焦裝置與所述光纖之間的光路上、配置有窄帶濾光片的濾光片轉換機構；利用所述濾光片轉換機構，將所述窄帶濾光片置于所述探測聚焦裝置與所述光纖之間的光路上，光信號通過所述窄帶濾光片后僅讓濾光片標稱波長通過，當掃描到能夠探測到為所述濾光片標稱波長的光信號時，所述波長可調光源發出的光源波長即為所述窄帶濾光片的濾光片標稱波長，從而完成所述可調波長光源的波長自動校準。

可選地，所述波長可調光源裝置包括：寬譜光源產生裝置，用于產生寬譜光源；波長分離裝置，用于將接收自所述寬譜光源產生裝置的寬譜光源分離出波長范圍極窄的單色光。

可選地，所述波長分離裝置為單色儀。

可選地，所述濾光片轉換機構包括：濾光片固定架；設于所述濾光片固定架上的窄帶濾光片；設于所述濾光片固定架上的通光孔；設于所述濾光片固定架上的電機固定架；以及設于所述電機固定架上的電機；利用電機，驅動所述濾光片固定架活動，實現所述濾光片固定架上的所述窄帶濾光片和所述通光孔置于所述探測聚焦裝置與所述光纖之間的光路上的轉換。

可選地，所述濾光片固定架為圓盤狀，所述窄帶濾光片和所述通光孔分別設于所述濾光片固定架的邊沿上，且所述窄帶濾光片和所述通光孔的連線為所述濾光片固定架的一直徑；利用所述電機，驅動所述濾光片固定架旋轉進行所述窄帶濾光片和所述通光孔的轉換。

可選地，所述窄帶濾光片的中心與所述探測聚焦裝置的中心相對準。

可選地，所述窄帶濾光片的波長為1064nm±0.5nm。

本實用新型提供的波長可調光源的波長自動校準系統，額外提供了具有窄帶濾光片的濾光片轉換機構，通過將所述窄帶濾光片置于光路中，僅讓濾光片標稱波長通過，據此完成所述可調波長光源的波長自動校準。相對于現有技術，本實用新型僅需簡單結構改進即可實現波長自動校準，且大大提高采用波長可調光源作為注入光源的探測設備自動化程度，提高了工作效率。

附圖說明