[實(shí)用新型]一種長余輝熒光粉性能測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220738821.1 | 申請日： | 2012-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN202956344U | 公開（公告）日： | 2013-05-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 熊凱 | 申請（專利權(quán)）人： | 浙江大學(xué)城市學(xué)院 |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 杭州浙科專利事務(wù)所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吳秉中 |
| 地址： | 310015*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 余輝 熒光粉 性能 測試 裝置 | ||
1.?一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于包括黑箱（5）、用于激發(fā)熒光粉的激發(fā)光源（3），黑箱（5）內(nèi)設(shè)置用于放熒光粉的托盤（6），托盤（6）上方設(shè)置光電探頭（7），在激發(fā)光源（3）和熒光粉之間設(shè)置用于控制光照的快門（4），激發(fā)光源（3）、光電探頭（7）、快門（4）均與控制電路（2）配合連接，控制電路（2）與上位機(jī)（1）配合連接。
2.?如權(quán)利要求1所述的一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于所述的控制電路（2）還包括采樣電路（202），采樣電路（202）與光電探頭（7）配合連接。
3.?如權(quán)利要求1所述的一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于所述的控制電路（2）還包括點(diǎn)燈電路（204），點(diǎn)燈電路（204）與激發(fā)光源（3）配合連接。
4.?如權(quán)利要求1所述的一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于所述的控制電路（2）還包括通訊電路（205），通訊電路（205）與上位機(jī)（1）配合連接。
5.?如權(quán)利要求1所述的一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于所述的控制電路（2）還包括中央處理電路（201）。
6.?如權(quán)利要求1所述的一種長余輝熒光粉性能測試裝置，其特征在于所述的控制電路（2）還包括進(jìn)行檔位控制的換檔電路（203）。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江大學(xué)城市學(xué)院，未經(jīng)浙江大學(xué)城市學(xué)院許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220738821.1/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
