[實用新型]一種大尺寸晶體檢驗臺有效
| 申請號： | 201220738742.0 | 申請日： | 2012-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN202994768U | 公開（公告）日： | 2013-06-12 |
| 發明（設計）人： | 劉鋒;朱杰;柳祝平;王曉林 | 申請（專利權）人： | 福建鑫晶精密剛玉科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N33/00 | 分類號： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 廈門市首創君合專利事務所有限公司 35204 | 代理人： | 連耀忠 |
| 地址： | 364000 福建省龍巖市*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 尺寸 晶體 檢驗 | ||
【權利要求書】：
1.一種大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，包括主臺體、檢驗槽、滾動裝置，所述的檢驗槽設置在主臺體頂部，且開口朝上，滾動裝置設置在檢驗槽上。
2.根據權利要求1所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，滾動裝置包括套管、轉軸，所述的轉軸套裝于套管中，轉軸固定安裝在檢驗槽上。
3.根據權利要求2所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，滾動裝置至少一個，所述的滾動裝置沿檢驗槽表面分布。
4.根據權利要求2所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，所述的檢驗槽為U型弧面。
5.根據權利要求4所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，U型弧面橫向設置有平行的溝槽，滾動裝置安裝在溝槽內。
6.根據權利要求5所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，溝槽的深度小于套管的直徑。
7.根據權利要求2所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，所述的檢驗槽為兩個帶U型開口的支撐架構成的U型導軌。
8.根據權利要求7所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，U型開口上設置有缺口，兩個支撐架的U型開口上的缺口位置對稱，滾動裝置安裝在缺口內。
9.根據權利要求8所述的大尺寸晶體檢驗臺，其特征在于，缺口的深度小于套管的直徑。
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