[實用新型]碳化硅橫向PIN型微型核電池有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220734703.3 | 申請日: | 2012-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN202976869U | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張林;李清華;邱彥章;巨永鋒 | 申請(專利權(quán))人: | 長安大學 |
| 主分類號: | G21H1/06 | 分類號: | G21H1/06 |
| 代理公司: | 西安創(chuàng)知專利事務所 61213 | 代理人: | 譚文琰 |
| 地址: | 710064 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碳化硅 橫向 pin 微型 核電 | ||
1.一種碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:包括由N型SiC基片構(gòu)成的襯底(1)和設(shè)置在所述襯底(1)上部的N型SiC外延層(2),所述N型SiC外延層(2)上設(shè)置有N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)和P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4),所述N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)上部設(shè)置有形狀與所述N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)形狀相同的N型歐姆接觸電極(5),所述P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4)上部設(shè)置有形狀與所述P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4)形狀相同的P型歐姆接觸電極(6);所述N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)、P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4)、N型歐姆接觸電極(5)和P型歐姆接觸電極(6)均為由一條水平指條和多條垂直指條構(gòu)成的指狀結(jié)構(gòu),所述N型歐姆接觸電極(5)的垂直指條與所述P型歐姆接觸電極(6)的垂直指條相互交叉設(shè)置構(gòu)成了叉指結(jié)構(gòu);所述N型SiC外延層(2)上部除去N型歐姆接觸電極(5)和P型歐姆接觸電極(6)的區(qū)域設(shè)置有二氧化硅層(7)。
2.按照權(quán)利要求1所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)和N型歐姆接觸電極(5)均為由一條水平指條和三條垂直指條構(gòu)成的指狀結(jié)構(gòu),所述P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4)和P型歐姆接觸電極(6)均為由一條水平指條和兩條垂直指條構(gòu)成的指狀結(jié)構(gòu),所述P型歐姆接觸電極(6)的兩條垂直指條分別位于所述N型歐姆接觸電極(5)的三條垂直指條之間的兩個間隙中構(gòu)成了叉指結(jié)構(gòu)。
3.按照權(quán)利要求1或2所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述N型SiC外延層(2)的厚度為5μm~15μm。
4.按照權(quán)利要求1或2所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述N型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(3)的水平指條和垂直指條的寬度,所述P型SiC歐姆接觸摻雜區(qū)(4)的水平指條和垂直指條的寬度,所述N型歐姆接觸電極(5)的水平指條和垂直指條的寬度,以及所述P型歐姆接觸電極(6)的水平指條和垂直指條的寬度均為0.5μm~2μm;所述P型歐姆接觸電極(6)的垂直指條與所述N型歐姆接觸電極(5)的垂直指條之間的間隔距離為10μm~15μm。
5.按照權(quán)利要求1或2所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述N型歐姆接觸電極(5)由依次從下到上的第一Ni層和第一Pt層構(gòu)成,所述第一Ni層的厚度為200nm~400nm,所述第一Pt層的厚度為50nm~200nm。
6.按照權(quán)利要求1或2所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述P型歐姆接觸電極(6)由依次從下到上的第二Ni層和第二Pt層構(gòu)成,所述第二Ni層的厚度為200nm~400nm,所述第二Pt層的厚度為50nm~200nm。
7.按照權(quán)利要求1或2所述的碳化硅橫向PIN型微型核電池,其特征在于:所述二氧化硅層(7)的厚度為10nm~50nm。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長安大學,未經(jīng)長安大學許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220734703.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





