[實(shí)用新型]一種基于FPGA的測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220725454.1 | 申請日: | 2012-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN203133136U | 公開(公告)日: | 2013-08-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉偉;王麗媛;馮謠;張瑋龍;魏海嬌;鄔果昉;郎明華;徐海洋;趙玉順 | 申請(專利權(quán))人: | 長安大學(xué) |
| 主分類號: | G01R13/02 | 分類號: | G01R13/02;G01R19/25 |
| 代理公司: | 西安恒泰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61216 | 代理人: | 李婷 |
| 地址: | 710064*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 fpga 測試 裝置 | ||
1.一種基于FPGA的測試裝置,其特征在于,包括放大器、第一A/D轉(zhuǎn)換器、第二A/D轉(zhuǎn)換器、處理器、LED顯示器和鍵盤,其中,第一A/D轉(zhuǎn)換器、第二A/D轉(zhuǎn)換器和鍵盤分別連接處理器的輸入端,處理器的輸出端連接LED顯示器,放大器的輸出端連接第一A/D轉(zhuǎn)換器。?
2.如權(quán)利要求1所述的基于FPGA的測試裝置,其特征在于,所述的放大器采用LM358運(yùn)算放大器。?
3.如權(quán)利要求1所述的基于FPGA的測試裝置,其特征在于,所述的第一A/D轉(zhuǎn)換器采用TLC5510轉(zhuǎn)換器。?
4.如權(quán)利要求1所述的基于FPGA的測試裝置,其特征在于,所述的第二A/D轉(zhuǎn)換器采用ADC0809轉(zhuǎn)換器。?
5.如權(quán)利要求1所述的基于FPGA的測試裝置,其特征在于,所述的處理器采用EP1C12Q240C芯片。?
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