[實用新型]一種光束檢測儀有效
| 申請號: | 201220724913.4 | 申請日: | 2012-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN202994090U | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發明(設計)人: | 武杰杰;趙華龍;楊小君 | 申請(專利權)人: | 中科中涵激光設備(福建)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 351117 福建省莆田市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光束 檢測 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種光束檢測儀,用于激光加工領域。
背景技術
在光機設備裝調過程中經常需要檢測光束的位置及光束截面的形狀,而目前采用的檢測方式是通過一平面反射鏡將光束所成的像反射至CCD模塊,如圖1所示。光束1經過45度反射鏡反射后,經過聚焦鏡頭4,入射到CCD芯片,CCD檢測模塊3將CCD芯片輸出的信號轉換為數字信號后輸入到數據處理器10做進一步分析運算,并將計算的結果和采集的圖像信息顯示到顯示器9上。
這個檢測方式直接將光斑成像,雖然檢測速度較快,但是光斑成像不清晰,檢測精度較低。
實用新型內容
本實用新型針對上述問題,提出一種利用半透半反鏡片成像的光束檢測儀。具體如下:
包括:CCD模塊、聚焦鏡頭,沿光線傳播方向依次設置半透半反鏡片、光屏,半透半反鏡片的平面與光線呈45度放置,光屏的平面與光束垂直,其一端與半透半反鏡片的一端相接;光線透過半透半反鏡片照射到光屏上,經過光屏的反射后,再經過半透半反鏡片反射,由聚焦鏡頭將光線會聚到CCD模塊上。
進一步地,光屏上帶有分劃刻度。
進一步地,CCD模塊內部具有與CCD芯片,光線會聚到CCD芯片上。
進一步地,CCD模塊上具有一CCD輸出接口。
進一步地,還包括數據線、數據處理器、顯示器;CCD輸出接口將CCD模塊中的光線信號經過數據線,輸出至數據處理器運算,運算的結果和采集的圖像信息顯示到顯示器上。
本實用新型的有益效果是:
本實用新型提出的利用半透半反鏡片的檢測儀提高了成像清晰度,提高檢測精度。
附圖說明
圖1是現有技術中的光束檢測儀結構示意圖。
圖2是本實用新型的光束檢測儀結構示意圖。
圖3是本實用新型的光束檢測儀中光屏8的俯視圖。
具體實施方式
如圖2所示,該光束檢測儀0包括:半透半反鏡片2、CCD模塊3、聚焦鏡頭4、光屏8。CCD模塊3中具有一CCD芯片。半透半反鏡片2的平面與光線方向呈45度夾角,光線1透過半透半反鏡片2照射到光屏8上,經過光屏8的反射后,光線5經過半透半反鏡片2反射,由聚焦鏡頭4將光線會聚到CCD芯片7上。
光屏8是一個帶有分劃刻度13的漫反射板(如圖3所示,12是光斑),反射到CCD芯片7上的光線中攜帶了分劃刻度和光束兩部分的信息,該信息經過CCD模塊3內部運算后經由CCD輸出接口6和數據線11進入數據處理器10做進一步分析運算,并將計算的結果和采集的圖像信息顯示到顯示器9上。
由于在光屏8上帶有分劃刻度,可以不經過處理器的運算計算即可人工判斷光束的位置信息。
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