[實用新型]基于多溫度點多模塊存儲測試系統

有效

• 申請號: 201220723592.6
• 申請日: 2012-12-25
• 公開（公告）號: CN202994203U
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 趙利剛;劉華;袁海驥
• 申請（專利權）人: 科納技術(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01D21/00
• 分類號: G01D21/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種測試系統的測試閑置時間被充分利用，尤其是指一種基于多溫度點多模塊存儲測試系統。本實用新型廣泛適用于需要進行多溫度點測試，尤其是硬件設備比較昂貴的多溫度點通信測試領域，可以減少了測試系統的搭建，方法簡單、速度較快，并且具備較好的可靠性。

背景技術

目前，工業領域中對于多溫度點測試的要求有一共性：即一套測試系統在每次測試中盡可能減少測試過程中的閑置等待，且要具備較高的可靠性。

然而，對于需要光矢量分析儀的多溫度點測試系統來說，光矢量分析儀在整個測試系統的資金投入比重最大。多溫度測試需要待測試產品溫度達到目標溫度后溫度穩定，待測產品在升、降溫和溫度穩定階段，光矢量分析儀處于測試閑置狀態，對測試系統來說是極大的資源浪費。

發明內容

為了減少測試系統的測試閑置時間，減少了測試系統的搭建，本實用新型提供了一種基于多溫度多模塊存儲測試系統，使得現有的一套測試系統測試效率提升21％。本實用新型測試方法簡單、測試速度較快，適用于大型企業對多溫度點測試的產品進行測試。

本實用新型所采用的技術方案為：

基于多溫度點多模塊存儲測試系統，其特征在于包含光矢量分析儀、光開關、待測產品、高低溫試驗箱、計算機和路由器。其中所述的光矢量分析儀輸出寬帶光，通過光開關流向存儲在多臺高低溫試驗箱的待測產品內，多臺高低溫試驗箱用于提供待測產品目標溫度的存儲溫度，再通過光開關輸出到光矢量分析儀的接收端，計算機用于數據采集和存儲，多臺高低溫試驗箱、光開關和計算機通過路由器聯網控制。

進一步地，前述的基于多溫度點多模塊存儲測試系統，其特征在于多個高低溫試驗箱的使用實現了測試系統交叉升、降溫測試，減少了光矢量分析儀測試的閑置等待。

進一步地，前述的基于多溫度點多模塊存儲測試系統，其特征在于可以有效地改善多溫點測試的溫度穩定性，進而提高測試的準確性。

本實用新型可以減少測試系統的等待時間，減少了測試系統的搭建，方法簡單、速度較快，可提高多溫點測試是溫度穩定性。尤其適用于大型企業對多溫度控制測試的產品進行測試。

附圖說明

圖1為基于多溫度點多模塊存儲測試系統圖

圖中各附圖標記的含義為：

1～光矢量分析儀；2～光開關；3～計算機；4～路由器；

5～高低溫試驗箱1；6～高低溫試驗箱2；7～高低溫試驗箱N。

圖2為高低溫試驗箱與待測試產品關系圖。

具體實施方式

為了減少測試系統的測試閑置時間，減少了測試系統的搭建，本實用新型提供了一種基于多溫度點多模塊存儲測試系統，使測試效率的提升近20％。本實用新型測試方法簡單、測試速度較快，適用于大型企業對多溫度要求的產品進行測試。基于多溫度點多模塊存儲測試系統包含光矢量分析儀1、光開關2、計算機3、路由器4、高低溫試驗箱5、高低溫試驗箱26、高低溫試驗箱N?7。下面以測試系統使用兩臺高低溫試驗箱(每臺高低溫試驗箱內放置5臺待測品)為例，闡述測試效率提升。

(一)系統的搭建

(1)首先按照說明書附圖1的方式將基于多溫度多模塊存儲測試系統搭建完畢。

(2)設定網絡IP，可以通過程序自動控制整個系統。

(二)系統的測試

(1)將待測的10pcs產品分別放入高低溫試驗箱1和2，待測試產品的目標溫度為0C/15C/30C/45C/65C。

(2)設定第一臺高低溫試驗箱起始溫度為30C，第二臺高低溫試驗箱起始溫度為-20C。

(3)第一臺高低溫試驗箱內產品先完成30C測試，第二臺內的完成-5C測試。

(4)隨后第一臺高低溫試驗箱內的產品完成-5C、15C、45C、65C的測試，第二臺內的對應完成15C、30C、45C、65C。

基于多溫度多模塊存儲測試系統，測試10pcs產品為例，測試時間一般為950分鐘(15.83小時)，等待時間為2.17小時/5pcs，如下比較了等待時間前后數值：

測試系統改良后，等待5pcs產品，溫度等待時間減少了4.14小時。