[實用新型]一種X射線熒光光譜分析的樣品盒

有效

• 申請號: 201220721385.7
• 申請日: 2012-12-24
• 公開（公告）號: CN203011862U
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 蒯麗君;詹秀春;樊興濤
• 申請（專利權）人: 國家地質實驗測試中心
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

技術領域

本實用新型涉及光譜分析領域，具體地說是一種用于X射線熒光光譜分析的可盛裝液體分析樣的樣品盒。

背景技術

X射線熒光光譜分析具有分析速度快、能分析各種狀態和各種形狀的樣品、非破壞性分析、分析元素范圍廣、分析精密度高、重現行好、可進行薄樣的組分和厚度分析、易于實現自動化及在線分析等特點。X射線熒光光譜分析適用于各種形狀樣的無機組分分析，在生產科研等各個領域的應用非常廣泛，作為一種重要的分析手段，目前已廣泛應用于電子和磁性材料、化學工業、陶瓷和水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境等其他領域。

目前，國內外X射線定量測定方法有：壓片法、熔片法、溶液法、合金法、鹵水法等其他制樣方法。對于不均勻樣品，不規則的技術、合金和陶瓷等，或者某些固體樣品的標樣難以制備時，溶液法是一種簡便有效的制樣方法。

X射線熒光光譜法的溶液制樣方法是通過化學手段將分析樣品分解成透明溶液，此方法能夠消除粉末或固體的不均勻性和粒度效應，具有操作簡便、快捷、有效、能夠消除樣品的吸收-增強效應等優點。

通常選用的是酸溶法，故所得到的分析液具有一定酸度。如果直接將此分析液進行上機檢測，從樣品盒揮發出來的酸氣可對儀器部件造成一定程度的腐蝕，損壞儀器。

那么，如何提供一種X射線熒光光譜分析的樣品盒，能夠克服上述技術問題，成為亟待解決的技術問題。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是如何提供一種X射線熒光光譜分析的樣品盒，能夠避免分析儀器被樣品盒中溶液的酸氣腐蝕、后期工作危險系數增加、成本增大等問題。

為解決上述技術問題，本實用新型提供一種X射線熒光光譜分析的樣品盒，包括：樣品盒主體、第一外層盒體、第二外層盒體、第二薄膜、吸附殼體；其中，所述樣品盒主體為：盒蓋、第一樣品盒體、第一薄膜、第二樣品盒體；所述盒蓋覆蓋于所述第一樣品盒體上方；所述第一樣品盒體套設于所述第二樣品盒體內圍，所述第一薄膜位于所述第一樣品盒體與所述第二樣品盒體之間；所述第二樣品盒體套設于所述第一外層盒體內圍；所述第一外層盒體套設于所述第二外層盒體內；所述第二薄膜位于所述第一外層盒體和所述第二外層盒體之間；所述吸附殼體與所述第一外層盒體連接。優選地，所述第一外層盒體、第二外層盒體、第一樣品盒體、第二樣品盒體的底部位于同一水平面上。

優選地，進一步包括：吸附層，位于所述吸附殼體內。

優選地，所述吸附殼體內為針孔鏤空結構；所述吸附層位于所述針孔鏤空結構內。

優選地，所述吸附殼體與所述第一外層盒體的接觸部通過齒輪配合連接。

優選地，所述第一薄膜與所述第一樣品盒體和/或所述第二樣品盒體的接觸部設置有圓角。

優選地，所述第二薄膜與所述第一外層盒體和/或所述第二外層盒體的接觸部設置有圓角。

優選地，進一步包括密封層，貼合于所述第一外層盒體和所述吸附殼體連接處。

本實用新型提供的一種X射線熒光光譜分析的樣品盒，將所述樣品盒主體的各部分部件組裝，所述第一薄膜固定在所述第一樣品盒體和第二樣品盒體之間，移取一定體積的溶液于樣品盒主體內，蓋緊所述盒蓋；所述第二薄膜固定在所述第一外層盒體和所述第二外層盒體之間，所述樣品盒主體放置在所述第二薄膜之上；再將所述吸附殼體放置在所述第一外層盒體上部，罩住樣品盒主體；最后將樣品盒正確放置在儀器樣品盤規定的位置上。

在測量過程中，X光管97%的能量轉化為熱量，由冷卻水或液氮帶走熱量，隨著測量時間的增加，儀器內部的溫度有升高的趨勢，使得液態分析樣內分子擴散運動加劇，有部分分子從液體表面逃逸，穿過所述盒蓋，被所述吸附殼體或內置的吸附層吸收。同時，在所述第一外層盒體和所述第二外層盒體之間還設置有第二薄膜，且所述第二薄膜位于所述第一薄膜下方，阻止了由于所述第一薄膜的損壞而導致分析液的泄漏，另外在測量過程中所述第二薄膜為樣品盒營造了一個封閉的系統，保證了測量過程的安全。

因此，本實用新型提供的X射線熒光光譜分析的樣品盒，分析液由于分子擴散運動釋放出酸氣分子，能夠被位于盒體頂部和/或側面的吸附殼體或內置的吸附層吸收，不會使酸氣從樣品盤擴散至儀器內部，保護了儀器部件；同時，所述第二薄膜進一步避免了樣品盒主體內的溶液從底部溢流的可能，造成大型分析儀器被酸氣損毀的危險。

附圖說明