[實用新型]存儲器芯片測試機有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220712922.1 | 申請日： | 2012-12-21 |
| 公開（公告）號： | CN203038674U | 公開（公告）日： | 2013-07-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳石磯 | 申請（專利權(quán)）人： | 標準科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 梁愛榮 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲器 芯片 測試 | ||
1.一種存儲器芯片測試機，其特征在于，包括：
至少一測試盤，具有一上表面及相對于該上表面的一下表面；
多個放置槽，形成于該測試盤的上表面，并于每該放置槽內(nèi)具有一貫穿該測試盤的測試孔；
至少一測試基板，具有一上表面及相對于該上表面的一下表面，配置于該測試盤下方；
多個檢測區(qū)，形成于該測試基板的上表面，每個檢測區(qū)相對于每個測試孔；
一連接端，形成于該測試基板的一側(cè)邊；
一測試座，具有至少一測試端，該測試端與該連接端連接；及
一檢測器，與該測試座電性連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該檢測區(qū)進一步包含多個檢測接點。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該放置槽內(nèi)進一步包含至少一導正件。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該測試基板進一步包含一控制元件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該放置槽大于該測試孔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該檢測器是以有線連接的方式連接于該測試座。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲器芯片測試機，其特征在于，該檢測器是以無線連接的方式連接于該測試座。
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