[實用新型]組件隱裂測試暗箱

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220710035.0
• 申請日: 2012-12-20
• 公開（公告）號: CN203053875U
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳健;張永亮;王曉東;吳瑋
• 申請（專利權(quán)）人: 海潤光伏科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 江陰市同盛專利事務(wù)所(普通合伙) 32210
• 代理人: 唐紉蘭;曾丹

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種組件隱裂測試暗箱。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)組件隱裂測試是光電在組件下面，向上檢測組件位置。傳統(tǒng)的方法具有以下缺點：

1、為不遮擋鏡子，采用檢測光電在組件下方斜打光。部分光線被折射，未完全被反射入接受端。

2、組件的光電工作面朝上，容易沾染灰塵，影響組件性能。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型的目的在于克服上述不足，提供一種光線不被折射可以完全反射入接受端，用于檢測組件的光電工作面不容易沾染灰塵，保證組件性能的組件隱裂測試暗箱。?

本實用新型的目的是這樣實現(xiàn)的：

一種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體，所述暗箱本體內(nèi)設(shè)置有輸送平臺，所述輸送平臺的頂部設(shè)置有輸送帶，所述輸送帶上方的暗箱本體上向下設(shè)置有減速光電檢測器以及停止光電檢測器，所述減速光電檢測器以及停止光電檢測器沿著輸送帶的輸送方向依次布置所述減速光電檢測器以及停止光電檢測器之間的間距為8~12cm。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是：

本實用新型由于減速光電檢測器以及停止光電檢測器的設(shè)置，有利于防止傳輸過程測控失效引發(fā)相撞事故，使用時組件的光電工作面朝下，不容易沾染灰塵，減少了光電工作面的清潔保養(yǎng)工作，保證組件性能。

附圖說明

圖1為本實用新型組件隱裂測試暗箱的結(jié)構(gòu)示意圖。

其中：

暗箱本體1

輸送平臺2

輸送帶3

組件4

減速光電檢測器5

停止光電檢測器6。

具體實施方式

參見圖1，本實用新型涉及的一種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體1，所述暗箱本體1內(nèi)設(shè)置有輸送平臺2，所述輸送平臺2的頂部設(shè)置有輸送帶3，所述輸送帶3用于組件4的輸送，所述輸送帶3上方的暗箱本體1上向下設(shè)置有減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6，所述減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6沿著輸送帶3的輸送方向依次布置。

所述減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6之間的間距為8~12cm。