[實用新型]接觸式半自動IC卡檢測裝置

有效

• 申請號: 201220708958.2
• 申請日: 2012-12-20
• 公開（公告）號: CN203054112U
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 魯凡
• 申請（專利權）人: 武漢天喻信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京中北知識產權代理有限公司 11253
• 代理人: 吳瓊

技術領域

本實用新型涉及檢測裝置，特別涉及一種接觸式半自動IC卡檢測裝置。?

背景技術

在現有的智能IC卡檢驗活動中，一般使用IC卡讀寫機設備進行檢測。因此，在整個檢驗過程中由于人員手工操作，在插拔卡片的同時讀寫機的進卡口、讀寫機內讀寫觸點等尖銳及金屬部分都會對卡片及芯片表面存在一定的傷害，而這類傷害在客戶看來，也屬于無法接受的產品問題。另外，由于是手工使用讀寫機進行讀寫操作，長期進行插拔卡片的動作會導致讀寫觸點磨損，而影響檢測的準確度，進而影響產品的質量。?

為了避免IC卡檢驗過程中的卡片及芯片表面的劃傷問題。現有技術中一般采用在卡片印刷后對卡片進行增加一層保護膜的工序，降低卡片在生產檢測環節造成的卡體劃傷。然而，這種增加保護膜的做法弊端是，不僅增加了產品的成本，而且覆膜工序僅針對的是卡片本身的保護，無法做到對芯片的保護。?

另一方面，對于檢測用的讀寫機，在進行萬次插拔動作后，就會因為設備磨損導致設備報廢，也無形中增加了生產成本。另外卡片的保護膜在產品出廠前必須要揭下來，這樣也增加了產品的人工成本。?

實用新型內容

有鑒于此，為克服現有技術的不足，本實用新型提供一種可避免IC卡芯片表面劃傷的接觸式半自動IC卡檢測裝置。?

一種接觸式半自動IC卡檢測裝置，包括檢測臺、用于對所述檢測臺上的待檢測卡片進行測試的檢測組件、與待檢測卡片形成接觸的探針檢測組件及控制所述探針檢測裝置與待檢測卡片接觸或分離的電磁制動組件。所述探針檢測組件與所述檢測組件連接，所述電磁制動組件與所述探針檢測組件進行連接。所述電磁制動組件通過電磁力控制所述探針檢測組件在與待檢測卡片垂直的方向上與待檢測卡片接觸或分離。?

優選地，所述檢測臺一旁設置有由待檢測卡片觸發的行程開關，所述行程開關與所述電磁制動組件相連控制所述電磁制動組件驅動所述探針檢測組件在與待檢測卡片垂直的方向上與待檢測卡片接觸或分離。?

優選地，所述檢測臺上開設有放置待檢測卡片的IC卡容槽，所述行程開關設置在所述IC卡容槽的后方。?

優選地，所述探針檢測組件包括檢測探針及探針限位條，所述探針限位條設置在所述檢測探針旁，所述探針限位條的下端略高于所述檢測探針的末端以防止所述檢測探針對待檢測卡片的撞擊。?

優選地，所述探針檢測組件包括探針墊塊及探針安裝板，所述探針墊塊設置在所述檢測探針與所述探針安裝板之間。?

優選地，所述電磁制動組件包括電磁鐵固定板、電磁鐵墊塊及電磁鐵，所述電磁鐵固定板往上順次安裝所述電磁鐵墊塊及電磁鐵。?

優選地，所述接觸式半自動IC卡檢測裝置包括設置在所述檢測臺后方的背板，所述電磁鐵固定板固定在所述背板上，所述電磁鐵固定板往下順次安裝有所述探針安裝板、探針墊塊及檢測探針。?

優選地，所述檢測探針位于所述檢測臺的上方，所述檢測探針采用5針探針。?

優選地，所述電磁鐵為ZYE1-1264的直流電磁鐵，所述電磁鐵在垂直于待檢測卡片方向上的移動距離為10mm。?

優選地，所述檢測組件為電腦。?

本實用新型的接觸式半自動IC卡檢測裝置采用電磁制動組件驅動接觸式探針檢測組件進行垂直于IC卡芯片的上下運動，解決了傳統讀寫機觸點與芯片的橫向滑動接觸造成劃痕，也無需在印刷后另外增加保護膜的工序。?

附圖說明

圖1為本實用新型的優選實施例接觸式半自動IC卡檢測裝置的結構示意圖。?

具體實施方式

為更好地理解本實用新型，以下將結合附圖和具體實例對本實用新型進行詳細的說明。?

基于克服以上所述現有的檢測裝置的種種弊端的目的，本實用新型提供一種接觸式半自動IC卡檢測裝置，以解決檢測裝置對卡片、芯片的劃傷以及由于讀寫機頻繁使用而導致手工操作時卡片放置不到位所造成的檢測失誤的技術問題。?

本實用新型的優選實施例接觸式半自動IC卡檢測裝置包括檢測組件、探針檢測組件及電磁制動組件。檢測組件主要用于對待檢測卡片進行測試。探針檢測組件與檢測組件連接，主要用于與待檢測卡片形成接觸，使檢測組件能夠進行檢測。電磁制動組件與探針檢測組件進行連接，通過電磁力控制探針檢測組件與待檢測卡片接觸或分離。?

請結合參閱圖1，接觸式半自動IC卡檢測組件，檢測臺1、IC卡容槽2、背板3、電磁鐵固定板4、探針安裝板5、探針墊塊6、檢測探針7、電磁鐵墊塊8、電磁鐵9及行程開關10。?